検索結果 : 44

(1-10/44)    次の10件

リニアガイド 「LMガイド」 HSR形

資料番号 113611610001
所在等 THK株式会社
所在地 東京都品川区
製作(製造)年 1982
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/10/01


メモリテストシステム T310/31X

資料番号 113611610002
所在等 株式会社アドバンテスト 群馬R&Dセンタ
所在地 群馬県邑楽郡明和町
製作(製造)年 1983
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/10/21


ダイナミック・テスト・ハンドラ T393/48

資料番号 113611610003
所在等 株式会社アドバンテスト 群馬R&Dセンタ
所在地 群馬県邑楽郡明和町
製作(製造)年 1983
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/09/19


VLSIテストシステム T3320

資料番号 113611610004
所在等 株式会社アドバンテスト 群馬R&Dセンタ
所在地 群馬県邑楽郡明和町
製作(製造)年 1983
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/09/19


KrFエキシマレーザ KLES-G10K 

資料番号 113611610005
所在等 ギガフォトン株式会社
所在地 栃木県小山市
製作(製造)年 1997
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/10/20


ディスコオートマチックダイシングソー DAD-2H

資料番号 113611610006
所在等 株式会社ディスコ 広島事業所 桑畑工場
所在地 広島県呉市
製作(製造)年 1974
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/10/10


150mmフルオートUV照射装置 RAD-2000F/6

資料番号 113611610007
所在等 リンテック株式会社 伊奈テクノロジーセンター
所在地 埼玉県北足立郡伊奈町
製作(製造)年 1984
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/09/12


フォトマスクパタン欠陥検査装置仕様書(現:フォトマスク欠陥検査装置) 1MD2

資料番号 113611610008
所在等 レーザーテック株式会社
所在地 神奈川県横浜市
製作(製造)年 1976
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/10/10


走査型カラーレーザー顕微鏡仕様書 2LM11

資料番号 113611610009
所在等 レーザーテック株式会社
所在地 神奈川県横浜市
製作(製造)年 1985
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/10/10


ウェーハダイシングマシン A-WD-75A

資料番号 113611610010
所在等 株式会社東京精密
所在地 東京都八王子市
製作(製造)年 1970
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
調査票記入日

2014/10/31


(1-10/44)    次の10件