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(データは調査時のものです。最新の状況とは一致しない場合があります。)
高分解能ICP-MS JMS-PLASMAX2 |
資料番号 : 103510401071 |
所在等 |
日本電子株式会社 技術統括本部 |
所在地 |
東京都昭島市 |
製作(製造)年 |
1994 |
種類 |
写真、その他(カタログ) |
製作者(社)等 |
日本電子株式会社 |
調査機関団体 |
日本分析機器工業会 |
特徴 |
逆配置二重収束光学系による高分解能ICP-MS。本装置は半導体・環境物質等の研究分野におけるpptレベルの超微量元素分析をルーチンで行いたいという需要に対応すべく開発した製品で、高分解のICPMSとして1994年に販売を開始した。ICP/MSは質量数80以下の領域でバックグランドイオンが多く存在し、エレメントイオンに対する干渉イオンとなるが、従来の四重極型質量分析計をベースにしたICP/MSでは分解能の問題でエレメントイオンと干渉イオンの分離ができず、干渉イオンの強度で検出限界が限定されるという問題があった。本装置は逆配置型二重収束質量分析計をベースにして開発し、分解能10,000以上の高分解能を有するため、エレメントイオンと干渉イオンの分離が可能で、質量数80以下の領域でも干渉イオンの影響を受けずに超微量元素分析が可能となった。 |
資料公開状況 |
公開 |
調査票記入日 |
2004/01/20 |
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