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高性能二重収束タンデム質量分析計 JMS-HX110/HX110 |
資料番号 : 103510401066 |
所在等 |
日本電子株式会社 技術統括本部 |
所在地 |
東京都昭島市 |
製作(製造)年 |
1985 |
種類 |
設計図・文献、写真 |
製作者(社)等 |
日本電子株式会社 |
調査機関団体 |
日本分析機器工業会 |
特徴 |
タンデム質量分析計は質量分析計(MS)を2段に接続した装置で、前段の第1MSで試料をイオン化し、質量分離された単一イオン(プリカーサイオン)を高真空接続部(MS/MS インターフェース)へ送り込み、ここでプリカーサイオンをガスの充満する衝突室(コリジョンセル)へ導き、ガス衝突分解して生成するフラグメントイオンを後段の第2MSで質量分析するシステムである。有機化合物を混合物のままで質量分析が可能であり、また2段のMSで得られる多くの情報を分析することにより、高い精度の構造解析が行える。本装置は高質量化合物を高感度・高分解能で測定可能なHX110型質量分析計を2台連結し、MS/MS インターフェースには収束効率の高い二連Qポールレンズを採用したシステムで、最高分解能100,000以上、最大質量範囲125,000(amu)、加速電圧10kVで質量範囲10,000(amu)の測定が可能である。 |
資料公開状況 |
公開 |
調査票記入日 |
2004/01/20 |
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