| 資料番号 | 103510401069 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 東北大学 金属材料研究所 |
| 所在地 | 仙台市 |
| 製作(製造)年 | 1991 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/20 |
| 種類 | その他（受注生産品） |
| 製作者(社)等 | 日本電子株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 1250kVという高電圧の電子線を使用するので超圧電子顕微鏡と呼ばれている。高電圧発生部は絶縁ガスを充満した高圧タンクの中に収納している。電子線の波長も小さく分解能を高める事が出来、JEM-ARM1250は世界最高の0.1nmの像観察機能を有し、原子像を直接観察することが可能である。また、電子線の透過能も高く、厚い試料観察における立体構造観察も可能である。 |
| 資料番号 | 103510401070 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本電子株式会社 技術統括本部 |
| 所在地 | 昭島市 |
| 製作(製造)年 | 1993 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/13 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 日本電子株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 従来の微量生体成分の測定概念を変える化学発光を検出系に採用した免疫測定（CLIA）は放射物質を使用せず、かつ非常に高感度のイムノアッセイとして脚光をあびた。日本電子は長年、生化学検査の自動化で培った技術を応用し、RIA、EIAから次世代のイムノアッセイCLIAによるシングルラインフルランダムアクセス方式の全自動発光免疫測定装置JIA-FS150ルミクイックを開発した（CLIA：Chemiluminescent Immunoassay）。 |
| 資料番号 | 103510401071 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本電子株式会社 技術統括本部 |
| 所在地 | 昭島市 |
| 製作(製造)年 | 1994 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/20 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 日本電子株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 逆配置二重収束光学系による高分解能ICP-MS。本装置は半導体・環境物質等の研究分野におけるpptレベルの超微量元素分析をルーチンで行いたいという需要に対応すべく開発した製品で、高分解のICPMSとして1994年に販売を開始した。ICP/MSは質量数80以下の領域でバックグランドイオンが多く存在し、エレメントイオンに対する干渉イオンとなるが、従来の四重極型質量分析計をベースにしたICP/MSでは分解能の問題でエレメントイオンと干渉イオンの分離ができず、干渉イオンの強度で検出限界が限定されるという問題があった。本装置は逆配置型二重収束質量分析計をベースにして開発し、分解能10,000以上の高分解能を有するため、エレメントイオンと干渉イオンの分離が可能で、質量数80以下の領域でも干渉イオンの影響を受けずに超微量元素分析が可能となった。 |
| 資料番号 | 103510401072 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本電子株式会社 技術統括本部 |
| 所在地 | 昭島市 |
| 製作(製造)年 | 1995 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/20 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 日本電子株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 本装置は電子スピン共鳴（ESR）で確立されたSOD（スーパーオキサイドディスムターゼ）活性をはじめとする多目的アッセイ測定、食品等の放射線被爆線量測定、ビールの香味安定性測定等のアプリケーションに応えるため、取扱が簡便で小型・低価格のESRを供給することを目的に開発され1995年に販売を開始した。電磁石・分光計・高周波回路を一体型コンソールとして小型化し、オペレーションはパソコンに集約させた。基本性能面での感度は汎用装置と同等のスペックとした。 |
| 資料番号 | 103510401073 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本電子株式会社 技術統括本部 |
| 所在地 | 昭島市 |
| 製作(製造)年 | 1996 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/20 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 日本電子株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | スーパーシングルマルチタイプ、高速処理、反応液量80μlの超微量化。日本電子は従来不可能とされていた100μl未満の反応液量での分析を可能にした。新開発の検体前希釈ディスク機構により検査に必要な血清量も従来の1/5に低減した。さらには3秒周期反応ディスクにより、同時最大103項目、最大1650テスト/時のフルランダム高速分析ができる生化学自動分析装置を開発した。 |
| 資料番号 | 103510401074 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 上村工業株式会社 中央研究所 |
| 所在地 | 枚方市 |
| 製作(製造)年 | 1998 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/20 |
| 種類 | その他（受注生産品） |
| 製作者(社)等 | 日本電子株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | JPS-9010X線光電子分光装置（XPS）は通常行われるXPSを用いた試料表面分析の他に、単色化X線を試料表面に低角度で照射することにより実現されるX線の全反射X線光電子分光（TRXPS）を可能にした最初の商用機である。TRXPSでは通常のXPSよりさらに表面敏感になり、試料の極表面層の解析が可能になる。 |
| 資料番号 | 103510401075 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本電子株式会社 技術統括本部 |
| 所在地 | 昭島市 |
| 製作(製造)年 | 1999 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/20 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 日本電子株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 本装置は汎用（研究用）の電子スピン共鳴装置（ESR）で、JES-TEシリーズの後継機として、すべての制御をコンピュータにて一元管理し煩雑であった電磁石、分光計、高周波回路の制御を自動化することを目的に開発した製品で、1999年に販売を開始した。高周波回路の見直しにより感度は7×10<sup>9</sup>スピン/0.1mT以上となった。従来本体とは別構成となっていたデータ処理システムを一体化し、操作性とコストパフォーマンスの向上をはかった。さらに多重共鳴、時間分解検出、パルスESRシステムへの拡張にも対応させた。 |
| 資料番号 | 103510401076 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本分光株式会社 |
| 所在地 | 八王子市 |
| 製作(製造)年 | 1954 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/16 |
| 種類 | 写真 |
| 製作者(社)等 | 日本分光株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 国産第一号機。（財）応用光学研究所時代の装置。一号機は日本石油（株）中央研究所に納入。 |
| 資料番号 | 103510401077 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本分光株式会社 |
| 所在地 | 八王子市 |
| 製作(製造)年 | 1961 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/16 |
| 種類 | 写真 |
| 製作者(社)等 | 日本分光株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 国産一号機。以後日本分光の柱となる。 |
| 資料番号 | 103510401078 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本分光株式会社 |
| 所在地 | 八王子市 |
| 製作(製造)年 | 1971 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/16 |
| 種類 | 写真 |
| 製作者(社)等 | 日本分光株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 |
| 資料番号 | 103510401079 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本分光株式会社 |
| 所在地 | 八王子市 |
| 製作(製造)年 | 1982 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/16 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 日本分光株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 国産第一号機。シースフロー技術採用。 |
| 資料番号 | 103510401080 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本分光株式会社 |
| 所在地 | 八王子市 |
| 製作(製造)年 | 1990 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/16 |
| 種類 | 量産品 |
| 製作者(社)等 | 日本分光株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 手動型キャピラリー電気泳動システム、UV検知器使用。他に類をみない安価な装置。 |
| 資料番号 | 103510401081 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本分光株式会社 |
| 所在地 | 八王子市 |
| 製作(製造)年 | 1994 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/16 |
| 種類 | 量産品 |
| 製作者(社)等 | 日本分光株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 国産で唯一のこった超臨界クロマトグラフの装置。現在も販売。 |
| 資料番号 | 103510401082 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本分光株式会社 |
| 所在地 | 八王子市 |
| 製作(製造)年 | 1996 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/16 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 日本分光株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | コンフォーカルイメージ付、CCD検知器専用フルオートシステム。 |
| 資料番号 | 103510401083 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 日本分光株式会社 |
| 所在地 | 八王子市 |
| 製作(製造)年 | 1998 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/16 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 日本分光株式会社 |
| 資料公開状況 | 公開 |
| 特徴 | 国産第一号機。他に製造メーカーなし。 |
| 資料番号 | 103510401084 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ |
| 所在地 | ひたちなか市 |
| 製作(製造)年 | 1942 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/28 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 株式会社日立製作所 |
| 資料公開状況 | 非公開 |
| 特徴 | 日立が世に送り出した最初の電子顕微鏡で、縦置形の1号機である（国産1号機のHU-1形は横置形）。最高分解能は5nm、倍率は30,000倍、乾板（現在のフィルム）装填枚数は1枚のみで、撮影は手動露出によって行なわれた。当時の日本で稼働する数台の中の1台で、初めて実用的な像が得られた装置だったこともあり、各大学研究者の注目の的となった。 |
| 資料番号 | 103510401085 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ 那珂事業所 |
| 所在地 | ひたちなか市 |
| 製作(製造)年 | 1951 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/26 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 株式会社日立製作所 |
| 資料公開状況 | 非公開 |
| 特徴 | 1. 質量分析計国産一号機として、1951年東京工業大学に納入。2. 分析場は偏向角90°の単収束、分解能は100～120。3. 真空技術、イオン源、電磁石、イオン検出器というそれらの電源、制御回路技術、加工技術など質量分析計に必要な技術の発展に顕著な影響を与えた。 |
| 資料番号 | 103510401086 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ |
| 所在地 | ひたちなか市 |
| 製作(製造)年 | 1962 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/28 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 株式会社日立製作所 |
| 資料公開状況 | 非公開 |
| 特徴 | 1959年にAllan Walsh博士により提案された原子吸光分析法の有用性に、日立製作所はいち早く着目し、分光光度計の付属装置として応用を可能にした（1962年）。最初に発売された装置がRA-1形原子吸光付属装置で、EPU-2A形日立分光光電光度計と組み合わせることで、原子吸光分析が可能になった。海外メーカーもほぼ同時期に同様な装置を発売しており、RA-1形原子吸光付属装置は世界的にも市販原子吸光分析装置の起点とされている。 |
| 資料番号 | 103510401087 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ |
| 所在地 | ひたちなか市 |
| 製作(製造)年 | 1965 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/28 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 株式会社日立製作所 |
| 資料公開状況 | 非公開 |
| 特徴 | MPF-1形分光蛍光光度計（1965年～1966年）：初期の蛍光測定は分光光度計の測定の一分野として、分光光度計に特別な付属装置を付加することで行なわれていた。その後大形回折格子や励起光モニタリング方式が開発され、1965年に蛍光測定専用機としてMPF-1形分光蛍光光度計が発売された。この製品により高感度化が実現され、幅広く応用分野が広がり、今日の分光蛍光光度計の基礎となった。 |
| 資料番号 | 103510401088 |
|---|---|
| 情報所有館 | 国立科学博物館 |
| 所在等 | 株式会社日立ハイテクノロジーズ 那珂事業所 |
| 所在地 | ひたちなか市 |
| 製作(製造)年 | 1965 |
| 調査機関団体 | 日本分析機器工業会 |
| 調査票記入日 | 2004/01/26 |
| 種類 | |
| 製作者(社)等 | 株式会社日立製作所 |
| 資料公開状況 | 非公開 |
| 特徴 | 1. ガスクロマトグラフと質量分析計を直結した、いわゆるGC/MSとして最初期の製品。2. 用いたガスクロマトグラフは日立昇温ガスクロマトグラフF6形。質量分析計は日立質量分析計RMU-6D形である。3. ヘリウムセパレータはビーマン形またはリハーゲ形。4. イオン源は電子衝撃形。5. 質量分析計のイオン曲率半径200mm、偏向角90°。 |