万能投影検査器
| 資料番号 | 00328 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：PP-11型∥スクリーンサイズ：500×500mm∥倍率：10, 20, 50, 100倍∥製造者：ライツ社（ドイツ）∥製造時期：昭和32年 |
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万能投影検査器
| 資料番号 | 00329 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：TT511∥スクリーンサイズ：φ510mm∥倍率：10, 20, 50, 100倍∥製造者：ヒルガー・ワッツ社（英）∥製造時期：昭和34年 |
横型比較測長器（ベンチコンパレータ）
| 資料番号 | 00330 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－4ｲﾝﾁ∥マイクロメータヘッド・・・差動範囲：0－1ｲﾝﾁ∥目量：0.0001ｲﾝﾁ∥ダイヤルゲージ・・・指示範囲：±0.001ｲﾝﾁ∥目量：0.00005ｲﾝﾁ∥製造者：ブラウン・シャープ社（米）∥製造時期：昭和35年頃 |
レンズメータ
| 資料番号 | 00331 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 被検レンズ直径：24～90mm∥頂点屈折力：0～±25D∥最小目盛：0.125D，0.25D∥ターゲット：コロナターゲット∥視度調整：＋3D～－5D∥府仰角度：25～90度∥製造者：トプコン（日本）∥製造時期：昭和35年頃 |
ダイヤルゲージテスタ
| 資料番号 | 00332 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－25mm∥目量：1μm∥製造者：東京計測機製作所∥製造時期：昭和39年 |
照射測微器
| 資料番号 | 00333 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：SIP MI-6A∥拡大方式：てこ+光てこ∥測定範囲：±10μm∥目量：0.1μm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和25年 |
シグナルゲージ
| 資料番号 | 00334 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：シェフィールド 710型∥測定範囲：±0.05mm∥分解能：0.01mm∥判別方法：青 OK, 赤 NG∥製造者：シェフィールド社（米）∥製造時期：昭和35年 |
指針測微器（ミクロケータ）
| 資料番号 | 00335 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | ステム径：28mm∥測定範囲：±18μm∥目量：0.5μm∥製造者：VEB精密測定器製作所（東独） |
マイクロメータ測定面の平行度検査器
| 資料番号 | 00336 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定対象：マイクロメータ測定面の平行度検査∥適用範囲：測定範囲600mmまでの外側マイクロメータ∥オートコリメータ∥測定範囲：30分∥目量：10秒∥精度：6秒∥製造者：ヒルガー･ワッツ社（英）∥製造時期：昭和35年頃 |
アッベ式縦型測長器
| 資料番号 | 00337 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 目盛範囲：0－100mm∥測長範囲：0－200mm∥接眼目盛：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度（0－100mm）：±（1.5＋L/400）μm∥測定精度（100－200mm）：±（1.2＋L/150）μm∥製造者：カールツァイス・イエナ社（東独）∥製造時期：昭和36年 |
工場ゲージ測長器（MLA-250）
| 資料番号 | 00338 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲∥外側：0－255mm∥内側（リングゲージ）：20－253mm∥目量：1μm∥測定力：2, 5, 10N（200, 500, 1000gf）∥マジックアイON∥精度：±（0.5＋0.02L）μm∥ここでＬは測定長mm∥製造者：三井精機工業（日本）∥備考：高度成長時代に三井精機、津上が測長器を作り、SIP及びZeissに対抗して多量に生産され輸出もされた。∥製造時期：昭和41年 |
工場顕微鏡
| 資料番号 | 00339 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定テーブル移動範囲：X100mm, Y50mm∥目量：5μm∥角度目量：10分∥対物レンズ：5倍∥接眼レンズ：10倍∥製造者：オリンパス光学工業（日本）∥製造時期：昭和43年 |
小孔測定顕微鏡
| 資料番号 | 00340 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲∥径：φ0.05－2mm∥測定深さ：4mm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度∥φ0.5－2mm：±（0.8＋1.3/n）μm∥φ0.5mm以下：±（0.5＋1.6/n）μm∥n＝測定回数∥製造者：カール･ツアイス・イエナ社（東独）∥特徴：直径30μm、100μmのガラス測定子の測定物への接触状況を顕微鏡でとらえ座標値を求めた。座標値より寸法を決めた。∥製造時期：昭和43年 |
パーフレクトメータ式万能測長器
| 資料番号 | 00341 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲∥200mm∥標準尺目量：1mm∥測微接眼鏡の目量：1μm∥最小表示値：0.1μm∥測定対象面の検出：パーフレクトメータ∥光軸に対する最大傾き：1：17∥製造者：エルンスト･ライツ社（独）∥製造時期：昭和35年 |
内径測定機（反転法）
| 資料番号 | 00342 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定方法：測定すべき内径測定物を左テーブルに、ブロックゲージを組んだ基準器を右テーブルにセットし、それぞれの測定力を上部の電気マイクロメータで調整する。測定線上にある中央の差動変圧器による比較測定値を得る。測定範囲：φ7～150mm∥測定精度：±0.2μm∥製造者：工業技術院計量研究所、東京精密（日本）∥製造時期：昭和39年頃 |
測定顕微鏡（ディジタル式）
| 資料番号 | 00343 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：Ｘ：250mm∥Ｙ：125mm∥Ｚ：75mm∥最小表示量：0.1μm（10μｲﾝﾁ）∥照明法：落射及び透過照明∥明視野及び暗視野切換∥統合倍率：10～500倍∥製造者：オリンパス（日本）∥備考：このオリンパス製のほか、トプコン他光学メーカーがこの種の測定顕微鏡を多く作製し、輸出も行った。∥製造時期：昭和55年 |
アッベ式投影縦型測長器
| 資料番号 | 00344 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 目盛範囲：0－100mm∥測定範囲：200mm∥目量：1μm∥指示測微器読目量：0.1μm∥測定精度：±（0.6＋L/1000）μm∥L＝測定長mm∥製造者：カール･ツアイス･イエナ社（東独）∥製造時期：昭和50年頃 |
三次元測定機（トリオプチック）
| 資料番号 | 00345 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 座標検出：オプチカルフィーラ及び顕微鏡∥測定範囲：400×200×200mm∥目量（投影スクリーン）：0.5μm∥最小読取値：0.5μm∥回転テーブル目量（スクリーン）：1sec arc∥位置決めの不確かさ（2Σ）：0.6μm∥2平面間測定の不確かさ（2Σ）：1.45μm∥円柱直径測定の不確かさ（2Σ）：1.50μm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和46年 |
三次元座標測定器（型式 SIP 420M）
| 資料番号 | 00346 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 座標検出：電子式プローブ（1次元）、顕微鏡∥測定範囲：400×220×150mm∥目量：0.1μm∥最少読取値：0.1μm∥回転テーブル（目量）：1sec arc∥位置決めの不確かさ：0.6μm∥2平面間、直径の寸法測定の不確かさ：1.5μm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和54年 |
デジタル式万能測長器（パーフレクトメータ付）
| 資料番号 | 00347 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－200mm∥最小表示値：0.2μm∥測定対象面の検出：パーフレクトメータ光軸に対する最大傾き：1：17∥デジタルスケール：光学格子∥製造者：エルンストライツ社（ドイツ）∥特徴：穴の面にスリット光を投光し、反射の度合にて位置決めする装置が基本検出方式である。当初は万能測定顕微鏡の付属測定装置として用いられた。∥製造時期：昭和62年 |
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