横型オプチメータ（横型照射測微器）
| 資料番号 | 00288 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－250mm∥目盛範囲：0－100μm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度：±（0.5＋L/100）μm∥Ｌ：測定長mm∥繰返し精度：±0.25μm∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：第二次大戦後、わが国高度経済成長時代に生産企業の検査室で活躍した。∥製造時期：昭和5年頃 |
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万能横型測長器
| 資料番号 | 00289 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲（X軸）：∥外側（高さ50迄）：0－250mm∥内側（深さ40迄）：10－190mm∥接眼目量 ：1μm∥標準尺目盛範囲：0－100mm∥移動量：Z（上下）∥0－75mm∥製造者：カール・ツアイス（独）∥備考：横型オプチメータとベッドが共用できる。∥第二次大戦後、横型オプチメータと同様に高度成長時代を支えた。∥製造時期：昭和15年頃 |
木製箱型投影検査器
| 資料番号 | 00290 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：エンビーコ・シリーズIIB∥スクリーンサイズ：230×180mm∥倍率：20倍∥製造者：ニューボード・ブルフォード社（英）∥製造時期：大正9年頃 |
投影検査器
| 資料番号 | 00291 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：AM20∥スクリーンサイズ：16×10ｲﾝﾁ∥倍率：50倍∥製造者：RSウイルダ社（米）∥製造時期：昭和5年頃 |
テーパねじゲージ測定器
| 資料番号 | 00292 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲∥横方向：0－700mm∥垂直方向：0－100mm∥測定対象：全APIテーパねじゲージ他∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥角度接眼目量：1分∥製造者：SIP社（スイス）∥参考：アメリカ石油協会（ＡＰＩ）の規格にのっとったテーパねじケージの測定に用いた。API規格は世界中にて用いられている。このための自動車三次元測定機が1979年に計量研究所とミツトヨで開発された（ミツトヨ宇都宮歴史館に展示）。∥製造時期：昭和11年 |
万能測長機
| 資料番号 | 00293 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：MUL-1000∥測定範囲：0－1000mm∥目量：0.005mm∥最小読取値：0.1μm∥保証精度：±（0.6＋0.0009L）μm∥L＝測定長mm∥製造者：シップ社（スイス）∥備考：左側は測定対象に接触する測定、右側は光学像の測定、例えばねじれ角度等に用いたもので、第二次大戦後、わが国高度成長時代に製造業検査室にて活躍した。∥旧呉海軍工廠所有∥製作時期：昭和13年頃 |
ウルトラオプチメータ
| 資料番号 | 00294 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－200mm∥目量（目盛範囲）∥1μm（±83μm）∥0.2μm（±10μm）∥最小読取値：0.01μm∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：光てこを二重に用いた高感度比較測長器である。電気マイクロメータ活用以前ブロックゲージ標準器の校正に用いた。∥製造時期：昭和15年頃 |
ダイヤルゲージテスタ
| 資料番号 | 00295 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：横型∥測定範囲：0－30mm∥目量：0.005mm∥最小読取値：0.5μm∥バーニヤ使用∥製造者：中村製作所（日本）∥特徴：ダイヤルゲージ目盛校正に用いた。∥参考：この後スタンド型の「ダイヤルゲージテスタ」などの校正器に代わった。∥製造時期：昭和14年頃 |
横型万能測長機
| 資料番号 | 00296 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲（Ｘ軸）∥外側：0－250mm（高さ：0－50mm）∥内側：10－190mm（深さ：0－40mm）∥標準尺目盛範囲：0－100mm∥目量（顕微鏡）：1μm∥製造者：日本光学工業（現ニコン）（日本）∥備考：第二次大戦中欧州から輸入不可能時代にZeiss、SIPの測長器に代わり開発され使用された。製造時期：昭和15年頃 |
投影検査器
| 資料番号 | 00297 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | スクリーン径：φ360mm∥倍率：20倍∥製造者：アビヨン･マルセル・ダッソー社（仏）∥特徴：水平光路中に測定物をセットした。∥製造時期：昭和5年頃 |
測定顕微鏡
| 資料番号 | 00298 |
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| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 製造者：島津製作所（日本）∥備考：第二次大戦中に開発され用いられた。∥製造時期：昭和15年頃 |
指針測微器
| 資料番号 | 00299 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 目盛範囲：±0.02mm∥目量：1μm∥製造者：島津製作所（日本）∥備考：第二次大戦中に欧州の測微鏡に代わり開発された。∥製造時期：昭和20年 |
横型オプチメータ
| 資料番号 | 00300 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 目盛範囲：0－100μm∥測定範囲：0－350mm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度：±（0.5＋L/100）μm∥L＝測定長mm∥繰返し精度：±0.25μm∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中、Ｚｅｉｓｓ横型オプチメータに代り製作された。∥製造時期：昭和15年頃 |
万能測長器
| 資料番号 | 00301 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－100mm∥目量：0.001mm∥最小読取値：0.1μm∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中ＳＩＰ万能測長器に代り作製された。∥製造時期：昭和15年頃 |
干渉測微器
| 資料番号 | 00302 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－150mm∥指示範囲：±5μm∥目量：0.1μm（可変）∥最小読取値：0.01μm∥製造者：オリンパス光学・黒田挾範製作所（日本）∥備考：昭和27年工業技術院機械試験所、朝永良夫部長により考案された。測定子の微小変位をオプチカルフラットの傾きに変え、光波干渉縞（白色干渉）、黒線縞を指標とし、その移動から値を求めた。接眼鏡中の目盛をその干渉縞で校正して用いた。第1号機はオリンパス、第2号機はオリンパスと黒田精工によって製作された。∥製造時期：昭和37年頃 |
指針測微器（マイクロケータ）上下微動平行ばね付
| 資料番号 | 00303 |
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| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | ステム径：φ8mm∥目盛範囲：±25μm∥目量：0.5μm∥製造者：ヨハンソン社（スウェーデン）∥製造時期：昭和16年頃 |
万能測定顕微鏡
| 資料番号 | 00304 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定台移動距離：Ｘ200mm∥Ｙ100mm∥接眼目量：1μm∥角度接眼目量：1分∥センター間距離：700mm∥測定精度：±（1＋L/100）μm∥スパイラルマイクロスコープ：0.5μm∥製造者：カール･ツアイス社（独）∥備考：この測定器は第二次大戦直前ドイツからＵボートにて運び東京工大設置された。∥製造時期：昭和15年 |
投影検査器
| 資料番号 | 00305 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：Nikon1∥スクリーン径：φ300mm∥倍率：20倍，50倍∥製造者：日本光学（現ニコン)（日本）∥製造時期：昭和23年頃 |
短波長顕微鏡
| 資料番号 | 00306 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：BII型∥対物レンズ：10倍/N.A.0.3, 20倍/N.A.0.4, 40倍/N.A.0.65∥接眼レンズ：5倍∥製造会社：ユニオン光学（株）（日本）∥製造時期：昭和24年4月 |
指針測微器（マイクロケータ）（スタンド付）
| 資料番号 | 00307 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | ステム径：φ30mm∥測定範囲：±10μm∥目量：0.2μm∥製造者：ヨハンソン社（スウェーデン）∥備考：ねじり薄片拡大機構をもつ比較測長器として昭和20年に開発された。ベアリングメーカ等にて目量0.02μmのものが多く用いられ、電気マイクロメータに対抗して機械技術者に愛用された。∥製造時期：昭25年頃 |
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