マイクロメータ
| 資料番号 | 00268 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－0.5ｲﾝﾁ∥目量：0.001ｲﾝﾁ∥製造国：アメリカ∥製造時期：昭和50年 |
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内側ダイヤルキャリパ
| 資料番号 | 00269 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：30－50mm∥目量：0.01mm∥製造者：（株）ピーコック（日本）∥製造時期：昭和45年頃 |
ディジタルノギス
| 資料番号 | 00270 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：テサデジットカル∥測定範囲：0－150mm, 0－6ｲﾝﾁ∥最小読取量：0.01mm, 0.0004ｲﾝﾁ∥製造者：テサ社（スイス）∥製造時期：昭和52年 |
ディジタルノギス
| 資料番号 | 00271 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：デジットカル∥測定範囲：0－150mm, 0－6ｲﾝﾁ∥最小読取量：0.01mm, 0.0005ｲﾝﾁ∥製造者：ブラウン・シャープ社（米）∥製造時期：昭和52年 |
ディジタルマイクロメータ（直進式）
| 資料番号 | 00272 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－25mm∥最小表示量：0.001mm∥製造者：ムーア・ライト社（英）∥特徴：測定子スピンドルは直進し回転しない∥製造時期：昭和54年 |
ディジタルマイクロメータ（直進式）
| 資料番号 | 00273 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－38mm, 0－1.5ｲﾝﾁ∥最小表示量：0.002mm, 0.0001ｲﾝﾁ∥製造者：ダナトロン社（米）∥特徴：測定スピンドルは直進して測定物に接触する∥製造時期：昭和54年 |
外側マイクロメータ
| 資料番号 | 00274 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－15mm∥最小表示量：0.01mm∥製造者：ソメット社（チェコ）∥製造時期：昭和54年 |
ディジタルマイクロメータ
| 資料番号 | 00275 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－25mm∥最小表示量：0.001mm∥製造者：三豊製作所（現ミツトヨ）（日本）∥製造時期：昭和54年 |
ディジタルマイクロメータ
| 資料番号 | 00276 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－25mm, 0－1ｲﾝﾁ∥最小表示量：0.001mm, 0.0001ｲﾝﾁ∥製造者：マイクロ・メトロ・イタリア社（伊）∥製造時期：昭和54年頃 |
マイクロメータ
| 資料番号 | 00277 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－1ｲﾝﾁ∥目量：0.001ｲﾝﾁ∥人造ルビーチップ付∥製造者：ツミコ社（米）∥製造時期：昭和55年頃 |
ディジタルノギス
| 資料番号 | 00278 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 型式：デジットカルII∥測定範囲：0－6ｲﾝﾁ∥最小読取量：0.0004ｲﾝﾁ∥製造者：ブラウン・シャープ社（米）∥製造時期：昭和55年 |
すきまゲージ
| 資料番号 | 00279 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 厚さ範囲：0.05－1.00mm∥0.05mmごとに18枚組∥製造者：東京シクネス（日本）∥製造時期：昭和63年 |
ウィットワース測長器
| 資料番号 | 00280 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－72ｲﾝﾁ∥目量：0.0001ｲﾝﾁ∥副尺による最小読取値：0.00001ｲﾝﾁ∥基準ねじ：2條角ねじ，ピッチ1/4ｲﾝﾁ∥製作者：ウィット・ワース（1803－1887）（英）∥英国マンチェスター工科大学の所蔵品であった∥特徴：右端にある円輪直径訳300mmで拡大読取りができる∥参考：1850年に1/1,000,000ｲﾝﾁ（0.025μm）測定器をWhitworthは作製している。同じ時期に測定範囲25mm、及び380mm測定器を作製している。∥製作時期：1853年 |
測長器
| 資料番号 | 00281 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－1000mm∥目量：0.001mm∥最小読取値：0.1μm∥製造者：シップ社（スイス）∥参考：ＳＩＰ社は1909年に標準尺をはじめて用いた1m測長機を開発した。∥製作時期：昭和5年頃 |
縦型オプチメータ（縦型照射測微器）
| 資料番号 | 00282 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－150mm∥目盛範囲：±83μm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥製造者：カール・ツアイス社（独）／参考：Ｚｅｉｓｓは1922年に開発、横型の光てこ式比較測長器をUKのNPL（物理学研究所）が開発している。∥製造時期：昭和2年頃 |
顕微鏡付スケール
| 資料番号 | 00283 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－200mm∥最小読取値：0.02mm∥製造者：島津製作所（日本）製造時期：昭和2年頃 |
ねじコンパレータ（ねじ比較測定器）
| 資料番号 | 00284 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定対象：ねじ有効径∥測定範囲：0－1ｲﾝﾁ∥目量：0.0005ｲﾝﾁ∥製造者：フェデラル社（米）∥製造時期：大正14年頃 |
アッベ式縦型測長器
| 資料番号 | 00285 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－100mm∥適用範囲：200mm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度：±（0.5＋L/400）μm∥L＝測定長mm∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥参考：1890年Abbeはアライメントに関する原理（アッベの原理）を発見し、この測長器の元である標準尺が外から見える測長器を1890年に開発した。∥製造時期：昭和5年頃 |
万能測定顕微鏡
| 資料番号 | 00286 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定台の移動範囲：X200mm, Y50mm∥接眼目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥総合倍率：30倍∥角度接眼最小目量：1分∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：けがき針機構を備えている。∥製造時期：昭和5年頃 |
膜厚計（レプトスコープ１）
| 資料番号 | 00287 |
|---|---|
| 情報所有館 | ミツトヨ測定博物館 |
| 特徴 | 測定範囲：0－220μm∥最小目量：2μm∥製造者：カール・ドイツK.G.（独）∥製造時期：昭和5年頃 |
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