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測定法：構成する標準尺と基準尺とを平行に並べ横断的に一諸に移動させて、各測微顕微鏡で目盛線の位置を比較し、長さの値を求める。∥測定長：1000mm∥比較精度：0.5μm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館 
測定範囲：±10分∥目量：1秒∥製造者：英国国立物理学研究所（英）∥備考：1920年にNPLがオートコリメータを発明した。これをもとにHilger&Watts社が製品化した。∥製造時期：大正10年頃
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型式：P215∥スクリーンサイズ：460×560mm∥倍率：10倍, 20倍, 50倍, 100倍∥製造者：ヘンリーハウザー社（スイス）∥製造時期：昭和26年
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用途：プリズムの角度、屈折角の測定∥最小読取値：0.1秒∥製造者：分光計，オートコリメータ・・・シップ社（スイス）∥18面鏡及びオートコリメータ・・・ヒルガー・ワッツ社（英）∥製造時期：分光計・・・昭和25年頃∥18面鏡・・・昭和35年頃
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測定範囲：0－250mm∥目量：0.001mm∥最小読取値：0.0001mm∥製造者：シップ社（スイス）∥備考：第二次大戦後、高度成長時代に製造業検査室にて活躍∥製造時期：昭和28年
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測長器∥測長範囲（Ｘ軸）∥外側：0－450mm∥内側：1－200mm∥目量：1μm∥標準尺目盛範囲：0－100mm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度：±（1.2＋L/100）μm∥≒1.7μm（in50mm）∥製造者：カールツァイス･イエナ社（東独）∥備考：第二次大戦後、高度成長時代に製造業検査室にて活躍∥製造時期：昭和30年頃
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測定テーブルストローク：Ｘ125mm, Y50mm∥目量：0.01mm∥最小読取値：1μm∥角度目量：1分∥総合倍率：30倍∥製造者：カール･ツアイス社（独）∥備考：第二次大戦後、高度成長時代に製造業検査室にて活躍∥製造時期：昭和32年頃
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方式：流量式∥測定範囲：-20～0～+20μm∥目量：1μm∥製造者：（株）東京測範（日本）∥備考：高度成長時代、製造業検査室にて活躍。また、生産ラインの中にて加工の自動化にこの応用測定機が用いられた。∥製造時期：昭和30年頃
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方式：流量式∥目量：1μm∥倍率：1万倍以下∥安定度：短時間 1－3μm, 長時間（10分間）3μm∥測定精度 ：広範囲で3μm∥製造者：東京精密（日本）∥製造時期：昭和38年頃
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測定方法：日本国メートル原器からメートル副原器、また副原器から一次標準尺の1mの値を決めるために用いた。構成する標準尺と基準尺とを平行に並べ横断的に一緒に移動させて、各測微顕微鏡で目盛線の一を比較し、長さの値を求める。1963年以降は縦動比較機へ移行した。∥型式：T-BF型∥測定長：1000mm∥比較精度：0.5μm∥製造者：津上製作所（日本）∥製造時期：昭和28年頃
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測定方法：日本国メートル原器からメートル副原器、また副原器から一次標準尺の1mの値を決めるために用いた。例えば、右側に原器、左側に副原器というように、この2本を、直列に一直線上にあわせ込んで、1mを比べたので縦動比較器と名付けられた。木の部分の中は水槽で水は温度が変わりにくく、測定の温度を一定にするために用いた。∥世界で9台しか無い測定機で、長さの標準が光波長に変ったため不用になり、昭和63年（1988）3月工業技術院計量研究所より払下げを受けた。∥比較精度：0.2μm/1000mm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和32年
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測定範囲：0－200mm∥目盛範囲：±20μm∥目量：0.2μm∥製造者：カール・ツアイス社（東独）∥特徴：指示部が拡大投影され、読取りが容易となった。∥製造時期：昭和32年
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拡大方式：レバー∥ステム径：φ28mm∥測定範囲∥0－200mm∥指示範囲：±18μm∥目量：0.5μm∥製造者：VEB精密測定器製作所（東独）∥製造時期：昭和32年
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測定範囲∥内径：7－150mm∥最大深さ：50mm∥目量及び最小読取値：2μm及び0.1μm∥製造者：コベントリー社（英）∥参考：英国立物理学研究所の内径測定精度向上の一つとして開発されたもので日本に15台輸入された。∥製造時期：昭和34年頃
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型式：MU-214B∥測定範囲:∥Ｘ:0－400mm∥Ｙ:0－100mm∥Ｚ：0－20mm∥（125mmまで可能）∥目量：0.5μm∥最小読取値：0.1μm∥回転テーブル径：200mm∥最小読取角度：15分∥測定精度：±（0.5＋L/400）μm∥Ｌ＝測定長mm∥製造者：シップ社（スイス）∥特徴：Z軸スケールは別取付され、三次元座標測定機へ発展する一段階の測定器∥製造時期：昭和35年頃
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測定範囲：0－4ｲﾝﾁ∥マイクロメータヘッド・・・差動範囲：0－1ｲﾝﾁ∥目量：0.0001ｲﾝﾁ∥ダイヤルゲージ・・・指示範囲：±0.001ｲﾝﾁ∥目量：0.00005ｲﾝﾁ∥製造者：ブラウン・シャープ社（米）∥製造時期：昭和35年頃
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被検レンズ直径：24～90mm∥頂点屈折力：0～±25D∥最小目盛：0.125D，0.25D∥ターゲット：コロナターゲット∥視度調整：＋3D～－5D∥府仰角度：25～90度∥製造者：トプコン（日本）∥製造時期：昭和35年頃
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型式：シェフィールド 710型∥測定範囲：±0.05mm∥分解能：0.01mm∥判別方法：青 OK, 赤 NG∥製造者：シェフィールド社（米）∥製造時期：昭和35年
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測定対象：マイクロメータ測定面の平行度検査∥適用範囲：測定範囲600mmまでの外側マイクロメータ∥オートコリメータ∥測定範囲：30分∥目量：10秒∥精度：6秒∥製造者：ヒルガー･ワッツ社（英）∥製造時期：昭和35年頃
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目盛範囲：0－100mm∥測長範囲：0－200mm∥接眼目盛：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度（0－100mm）：±（1.5＋L/400）μm∥測定精度（100－200mm）：±（1.2＋L/150）μm∥製造者：カールツァイス・イエナ社（東独）∥製造時期：昭和36年
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測定範囲∥外側：0－255mm∥内側（リングゲージ）：20－253mm∥目量：1μm∥測定力：2, 5, 10N（200, 500, 1000gf）∥マジックアイON∥精度：±（0.5＋0.02L）μm∥ここでＬは測定長mm∥製造者：三井精機工業（日本）∥備考：高度成長時代に三井精機、津上が測長器を作り、SIP及びZeissに対抗して多量に生産され輸出もされた。∥製造時期：昭和41年
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測定テーブル移動範囲：X100mm, Y50mm∥目量：5μm∥角度目量：10分∥対物レンズ：5倍∥接眼レンズ：10倍∥製造者：オリンパス光学工業（日本）∥製造時期：昭和43年
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測定範囲∥径：φ0.05－2mm∥測定深さ：4mm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度∥φ0.5－2mm：±（0.8＋1.3/n）μm∥φ0.5mm以下：±（0.5＋1.6/n）μm∥n＝測定回数∥製造者：カール･ツアイス・イエナ社（東独）∥特徴：直径30μm、100μmのガラス測定子の測定物への接触状況を顕微鏡でとらえ座標値を求めた。座標値より寸法を決めた。∥製造時期：昭和43年
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測定範囲∥200mm∥標準尺目量：1mm∥測微接眼鏡の目量：1μm∥最小表示値：0.1μm∥測定対象面の検出：パーフレクトメータ∥光軸に対する最大傾き：1：17∥製造者：エルンスト･ライツ社（独）∥製造時期：昭和35年
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測定方法：測定すべき内径測定物を左テーブルに、ブロックゲージを組んだ基準器を右テーブルにセットし、それぞれの測定力を上部の電気マイクロメータで調整する。測定線上にある中央の差動変圧器による比較測定値を得る。測定範囲：φ7～150mm∥測定精度：±0.2μm∥製造者：工業技術院計量研究所、東京精密（日本）∥製造時期：昭和39年頃
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測定範囲：Ｘ：250mm∥Ｙ：125mm∥Ｚ：75mm∥最小表示量：0.1μm（10μｲﾝﾁ）∥照明法：落射及び透過照明∥明視野及び暗視野切換∥統合倍率：10～500倍∥製造者：オリンパス（日本）∥備考：このオリンパス製のほか、トプコン他光学メーカーがこの種の測定顕微鏡を多く作製し、輸出も行った。∥製造時期：昭和55年
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目盛範囲：0－100mm∥測定範囲：200mm∥目量：1μm∥指示測微器読目量：0.1μm∥測定精度：±（0.6＋L/1000）μm∥L＝測定長mm∥製造者：カール･ツアイス･イエナ社（東独）∥製造時期：昭和50年頃
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座標検出：オプチカルフィーラ及び顕微鏡∥測定範囲：400×200×200mm∥目量（投影スクリーン）：0.5μm∥最小読取値：0.5μm∥回転テーブル目量（スクリーン）：1sec arc∥位置決めの不確かさ（2Σ）：0.6μm∥2平面間測定の不確かさ（2Σ）：1.45μm∥円柱直径測定の不確かさ（2Σ）：1.50μm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和46年
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座標検出：電子式プローブ（1次元）、顕微鏡∥測定範囲：400×220×150mm∥目量：0.1μm∥最少読取値：0.1μm∥回転テーブル（目量）：1sec arc∥位置決めの不確かさ：0.6μm∥2平面間、直径の寸法測定の不確かさ：1.5μm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和54年
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測定範囲：0－200mm∥最小表示値：0.2μm∥測定対象面の検出：パーフレクトメータ光軸に対する最大傾き：1：17∥デジタルスケール：光学格子∥製造者：エルンストライツ社（ドイツ）∥特徴：穴の面にスリット光を投光し、反射の度合にて位置決めする装置が基本検出方式である。当初は万能測定顕微鏡の付属測定装置として用いられた。∥製造時期：昭和62年
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大きさ：300×300mm∥幅：50mm∥測定範囲：-0.05～+0.05mm/m∥感度：0.01m/m∥製造者：富士精密機器製作所（日本）∥製造時期：昭和42年
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粗目盛の目量：100/m≒3.4′∥細目盛の目量：0.01mm/m≒2″∥気泡管の感度：20″/2mm∥気泡変位：0.8mm/2″∥測定範囲：±10mm/m≒±34′∥精度：9～11mm/mで±0.01mm/m≒2″∥製造者：カールツアイ社（独）∥特徴：レンズ系によって上部窓中央に気泡端が並んで見えるように構成され、傾きによって両気泡端が逆方向に移動する。この両気泡端が合致するように上部つまみを回転調整して合致点の目盛値を読み取り、角度を求める。∥製造時期：昭和50年頃
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検出方式：触針式∥わが国で初めて試作された。国産では触針法による粗さ検査機の草分けである。∥縦倍率：100×, 500×∥横倍率：50×(アラサ用）, 5×（ウネリ用）∥測定範囲∥縦方向 0.07mm（100×）, 0.14mm（500×）∥横方向 4.5mm（50×）, 45mm（5×）∥製造者：日本光学（現ニコン）（日本）∥製造時期：昭和10年
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型式：フィリップス PR9151∥パラメータ：Ra=C.L.A（中心線平均粗ru単位）1ru=1/40ﾏｲｸﾛﾒｰﾀ=1ﾏｲｸﾛｲﾝﾁ∥測定範囲：4段階切替 0-250ru, 0-70ru, 0-17ru, 0-4ru∥製造者：フィリップス（オランダ）∥製造時期：昭和15年
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検出方式：100Hz，1.5μmで振動する触針を光てこで拡大し包絡線を求める∥Forester方式∥記録長さ：100mm∥拡大倍率：250，1000，2500倍∥横倍率：20～1000倍∥記録誤差：0.5μm∥製造者：ライツ社（独）∥製造時期：昭和30年頃
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型式：タリサーフ3型∥パラメータ：Ra，Rz，Rq，Rt 等∥測定範囲：0.01～100μm∥Ra：0.01～10μm∥評価長さ：0.25～2.5mm∥記録縦倍率：500～100,000倍∥6段階∥記録横倍率：10～100倍∥製造者：テーラーホブソン（英）∥製造時期：昭和30年
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型式：タリサーフ3型∥パラメータ：Ra，Rz，Rq，Rt 等∥測定範囲：0.01～100μm∥Ra：0.01～10μm∥評価長さ：0.25～2.5mm∥記録縦倍率：500～100,000倍∥6段階∥記録横倍率：10～100倍∥製造者：テーラーホブソン（英）∥製造時期：昭和32年
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型式：タリロンドⅠ型∥測定容量∥測定物の内外：350mm∥測定物の高さ：500mm∥荷重：200kg∥回転スピンドルの回転精度：0.025μm∥拡大率：100～20,000倍∥8段階∥最小目量：0.1μm∥製造者：テーラホブソン社（英）∥備考：真円度測定機として世界で始めての機種である。∥製造時期：昭和29年
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測定範囲∥長辺の長さ：500mm∥短辺の長さ：400mm∥目量：1μm∥測定精度：0.5μm∥製造者：藤田製作所（日本）∥特徴：垂直軸に対してセットした直角度基準器のスコヤを180°回転して反対側から垂直軸にあて、この2回の測微器の読みから直角度の値を求める。∥製造時期：昭和34年
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型式：818K∥使用法：サインテーブルを用い傾け、正しいテーパ角度からの偏差を求める∥測定範囲：外側テーパ（内側テーパ）∥最大径：120mm（100mm）∥最大長さ：250mm（200mm）∥最大角度：30°（20°）∥測微器目量：0.5, 1μm∥製造者：カール・マール社（独）∥製造時期：昭和35年頃
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