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ｲﾝﾁ目盛（黒）⇒測定範囲：0－1ｲﾝﾁ∥目量：0.001ｲﾝﾁ∥ﾐﾘ目盛（赤）⇒測定範囲：0－25mm∥目量：0.01mm∥ねじピッチ：0.02ｲﾝﾁ∥製造者：シェフィールド社（英）∥製造時期：昭和45年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館 
測定範囲：15－20mm∥目量：0.01mm∥最小読取値：バーニヤ目盛で0.002mm∥製造者：テサ社（スイス）∥特徴：円筒内面に3点で接触し測定する。∥製造時期：昭和45年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
（記念館に展示）∥測定範囲：0－150mm∥最小読取量：0.05mm∥製造者：三豊製作所（現ミツトヨ）（日本）∥製造時期：昭和47年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
（記念館に展示）∥測定範囲（目量）∥シンブル：0－1ｲﾝﾁ（0.001ｲﾝﾁ）∥カウンタ：0－25mm（0.01mm）∥シンブルﾐﾘ読み、∥カウンタｲﾝﾁ読み仕様もある。∥製造者：三豊製作所（現ミツトヨ）(日本)∥製造時期：昭和47年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：テサデジットカル∥測定範囲：0－150mm, 0－6ｲﾝﾁ∥最小読取量：0.01mm, 0.0004ｲﾝﾁ∥製造者：テサ社（スイス）∥製造時期：昭和52年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：デジットカル∥測定範囲：0－150mm, 0－6ｲﾝﾁ∥最小読取量：0.01mm, 0.0005ｲﾝﾁ∥製造者：ブラウン・シャープ社（米）∥製造時期：昭和52年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－25mm∥最小表示量：0.001mm∥製造者：ムーア・ライト社（英）∥特徴：測定子スピンドルは直進し回転しない∥製造時期：昭和54年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－38mm, 0－1.5ｲﾝﾁ∥最小表示量：0.002mm, 0.0001ｲﾝﾁ∥製造者：ダナトロン社（米）∥特徴：測定スピンドルは直進して測定物に接触する∥製造時期：昭和54年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－25mm, 0－1ｲﾝﾁ∥最小表示量：0.001mm, 0.0001ｲﾝﾁ∥製造者：マイクロ・メトロ・イタリア社（伊）∥製造時期：昭和54年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－72ｲﾝﾁ∥目量：0.0001ｲﾝﾁ∥副尺による最小読取値：0.00001ｲﾝﾁ∥基準ねじ：2條角ねじ，ピッチ1/4ｲﾝﾁ∥製作者：ウィット・ワース（1803－1887）（英）∥英国マンチェスター工科大学の所蔵品であった∥特徴：右端にある円輪直径訳300mmで拡大読取りができる∥参考：1850年に1/1,000,000ｲﾝﾁ（0.025μm）測定器をWhitworthは作製している。同じ時期に測定範囲25mm、及び380mm測定器を作製している。∥製作時期：1853年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－1000mm∥目量：0.001mm∥最小読取値：0.1μm∥製造者：シップ社（スイス）∥参考：ＳＩＰ社は1909年に標準尺をはじめて用いた1m測長機を開発した。∥製作時期：昭和5年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－150mm∥目盛範囲：±83μm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥製造者：カール・ツアイス社（独）／参考：Ｚｅｉｓｓは1922年に開発、横型の光てこ式比較測長器をUKのNPL（物理学研究所）が開発している。∥製造時期：昭和2年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－100mm∥適用範囲：200mm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度：±（0.5＋L/400）μm∥L＝測定長mm∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥参考：1890年Abbeはアライメントに関する原理（アッベの原理）を発見し、この測長器の元である標準尺が外から見える測長器を1890年に開発した。∥製造時期：昭和5年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定台の移動範囲：X200mm, Y50mm∥接眼目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥総合倍率：30倍∥角度接眼最小目量：1分∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：けがき針機構を備えている。∥製造時期：昭和5年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－250mm∥目盛範囲：0－100μm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度：±（0.5＋L/100）μm∥Ｌ：測定長mm∥繰返し精度：±0.25μm∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：第二次大戦後、わが国高度経済成長時代に生産企業の検査室で活躍した。∥製造時期：昭和5年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲（X軸）：∥外側（高さ50迄）：0－250mm∥内側（深さ40迄）：10－190mm∥接眼目量 ：1μm∥標準尺目盛範囲：0－100mm∥移動量：Z（上下）∥0－75mm∥製造者：カール・ツアイス（独）∥備考：横型オプチメータとベッドが共用できる。∥第二次大戦後、横型オプチメータと同様に高度成長時代を支えた。∥製造時期：昭和15年頃
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型式：エンビーコ・シリーズIIB∥スクリーンサイズ：230×180mm∥倍率：20倍∥製造者：ニューボード・ブルフォード社（英）∥製造時期：大正9年頃
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測定範囲∥横方向：0－700mm∥垂直方向：0－100mm∥測定対象：全APIテーパねじゲージ他∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥角度接眼目量：1分∥製造者：SIP社（スイス）∥参考：アメリカ石油協会（ＡＰＩ）の規格にのっとったテーパねじケージの測定に用いた。API規格は世界中にて用いられている。このための自動車三次元測定機が1979年に計量研究所とミツトヨで開発された（ミツトヨ宇都宮歴史館に展示）。∥製造時期：昭和11年
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型式：MUL-1000∥測定範囲：0－1000mm∥目量：0.005mm∥最小読取値：0.1μm∥保証精度：±（0.6＋0.0009L）μm∥L＝測定長mm∥製造者：シップ社（スイス）∥備考：左側は測定対象に接触する測定、右側は光学像の測定、例えばねじれ角度等に用いたもので、第二次大戦後、わが国高度成長時代に製造業検査室にて活躍した。∥旧呉海軍工廠所有∥製作時期：昭和13年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－200mm∥目量（目盛範囲）∥1μm（±83μm）∥0.2μm（±10μm）∥最小読取値：0.01μm∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：光てこを二重に用いた高感度比較測長器である。電気マイクロメータ活用以前ブロックゲージ標準器の校正に用いた。∥製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：横型∥測定範囲：0－30mm∥目量：0.005mm∥最小読取値：0.5μm∥バーニヤ使用∥製造者：中村製作所（日本）∥特徴：ダイヤルゲージ目盛校正に用いた。∥参考：この後スタンド型の「ダイヤルゲージテスタ」などの校正器に代わった。∥製造時期：昭和14年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲（Ｘ軸）∥外側：0－250mm（高さ：0－50mm）∥内側：10－190mm（深さ：0－40mm）∥標準尺目盛範囲：0－100mm∥目量（顕微鏡）：1μm∥製造者：日本光学工業（現ニコン）（日本）∥備考：第二次大戦中欧州から輸入不可能時代にZeiss、SIPの測長器に代わり開発され使用された。製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
目盛範囲：0－100μm∥測定範囲：0－350mm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度：±（0.5＋L/100）μm∥L＝測定長mm∥繰返し精度：±0.25μm∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中、Ｚｅｉｓｓ横型オプチメータに代り製作された。∥製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－100mm∥目量：0.001mm∥最小読取値：0.1μm∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中ＳＩＰ万能測長器に代り作製された。∥製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－150mm∥指示範囲：±5μm∥目量：0.1μm（可変）∥最小読取値：0.01μm∥製造者：オリンパス光学・黒田挾範製作所（日本）∥備考：昭和27年工業技術院機械試験所、朝永良夫部長により考案された。測定子の微小変位をオプチカルフラットの傾きに変え、光波干渉縞（白色干渉）、黒線縞を指標とし、その移動から値を求めた。接眼鏡中の目盛をその干渉縞で校正して用いた。第1号機はオリンパス、第2号機はオリンパスと黒田精工によって製作された。∥製造時期：昭和37年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
ステム径：φ8mm∥目盛範囲：±25μm∥目量：0.5μm∥製造者：ヨハンソン社（スウェーデン）∥製造時期：昭和16年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定台移動距離：Ｘ200mm∥Ｙ100mm∥接眼目量：1μm∥角度接眼目量：1分∥センター間距離：700mm∥測定精度：±（1＋L/100）μm∥スパイラルマイクロスコープ：0.5μm∥製造者：カール･ツアイス社（独）∥備考：この測定器は第二次大戦直前ドイツからＵボートにて運び東京工大設置された。∥製造時期：昭和15年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：BII型∥対物レンズ：10倍/N.A.0.3, 20倍/N.A.0.4, 40倍/N.A.0.65∥接眼レンズ：5倍∥製造会社：ユニオン光学（株）（日本）∥製造時期：昭和24年4月
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
ステム径：φ30mm∥測定範囲：±10μm∥目量：0.2μm∥製造者：ヨハンソン社（スウェーデン）∥備考：ねじり薄片拡大機構をもつ比較測長器として昭和20年に開発された。ベアリングメーカ等にて目量0.02μmのものが多く用いられ、電気マイクロメータに対抗して機械技術者に愛用された。∥製造時期：昭25年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
