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測定範囲∥横方向：０－７００ｍｍ∥垂直方向：０－１００ｍｍ∥測定対象：全ＡＰＩテーパねじゲージ他∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥角度接眼目量：１分∥製造者：ＳＩＰ社（スイス）∥参考：アメリカ石油協会（ＡＰＩ）の規格にのっとったテーパねじケージの測定に用いた。ＡＰＩ規格は世界中にて用いられている。このための自動三次元測定機が１９７９年に計量研究所とミツトヨで開発された（ミツトヨ宇都宮歴史館に展示）。∥製造時期：昭和１１年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館（沼田記念館・測定機器館） 
型式：ＭＵＬ－１０００∥測定範囲：０－１０００ｍｍ∥目量：０．００５ｍｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥保証精度：±（０．６＋０．０００９・Ｌ）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥製造者：シップ社∥（スイス）∥備考：左側は測定対象に接触する測定、右側は光学像の測定、例えばねじれ角度等に用いたもので、第二次大戦後、わが国高度成長時代に製造業検査室にて活躍した。∥旧呉海軍工廠所有∥製作時期：昭和１３年頃
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測定範囲：０－２００ｍｍ∥目量（目盛範囲）∥１μｍ（±８３μｍ）∥０．２μｍ（±１０μｍ）∥最小読取値：０．０１μｍ∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：光てこを二重に用いた高感度比較測長器である。電気マイクロメータ活用以前ブロックゲージ標準器の校正に用いた。∥製造時期：昭和１５年頃
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型式：横型∥測定範囲：０－３０ｍｍ∥目量：０．００５ｍｍ∥最小読取値：０．５μｍ∥バーニヤ使用∥製造者：中村製作所（日本）∥特徴：ダイヤルゲージ目盛校正に用いた。∥参考：この後スタンド型の「ダイヤルゲージテスタ」などの校正器に代わった。∥製造時期：昭和１４年頃
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測定範囲（Ｘ軸）∥外側：０－２５０ｍｍ（ｈｅｉｇｈｔ：０～５０）∥内側：１０－１９０ｍｍ（ｄｅｐｔｈ：１０～４０）∥標準尺目盛範囲：０－１００ｍｍ∥目量（顕微鏡）：１μｍ∥製造者：日本光学工業（現ニコン）（日本）∥備考：第二次大戦中欧州から輸入不可能時代にＺｅｉｓｓ、ＳＩＰの測長器に代わり開発され使用された。製造時期：昭和１５年頃
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スクリーン径：φ３６０ｍｍ∥倍率：２０倍∥製造者：アビヨン・マルセルダッソー社（仏）∥特徴：水平光路中に測定物をセットした。∥製造時期：昭和５年頃
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目盛範囲：±０．０２ｍｍ∥目量：１μｍ∥製造者：島津製作所（日本）∥備考：第二次大戦中に欧州の測微鏡に代わり開発された。∥製造時期：昭和２０年
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目盛範囲：０－１００μｍ∥測定範囲：０－３５０ｍｍ∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度：±（０．５＋Ｌ／１００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥繰返し精度：±０．２５μｍ∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中、Ｚｅｉｓｓ横型オプチメータに代り製作された。∥製造時期：昭和１５年頃
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測定範囲：０－１００ｍｍ∥目量：０．００１ｍｍ∥∥最小読取値：０．１μｍ∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中ＳＩＰ万能測長器に代り製作された。∥製造時期：昭和１５年頃
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測定範囲：０－１５０ｍｍ∥指示範囲：±５μｍ∥目量：０．１μｍ（可変）∥最小読取値：０．０１μｍ∥製造者：オリンパス光学∥黒田挾範製作所（日本）∥備考：昭和２７年工業技術院機械試験所、朝永良夫部長により考案された。測定子の微小変位をオプチカルフラットの傾きに変え、光波干渉縞（白色干渉）、黒線縞を指標とし、その移動から値を求めた。接眼鏡中の目盛をその干渉縞で校正して用いた。第１号機はオリンパス、第２号機はオリンパスと黒田精工によって製作された。∥製造時期：昭和３７年頃
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ステム径：φ８ｍｍ∥目盛範囲：±２５μｍ∥目量：０．５μｍ∥製造者：ヨハンソン社（スウェーデン）∥製造時期：昭和２５年頃
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測定台移動距離：Ｘ２００ｍｍ∥Ｙ１００ｍｍ∥接眼目量：１μｍ∥角度接眼目量：１分∥センター間距離：７００ｍｍ∥測定精度：±（１＋Ｌ／１００）μｍ∥スパイラルマイクロスコープ：０．５μｍ∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：この測定器は第二次大戦直前ドイツからＵボートにて運び東京工大に設置された。∥製造時期：昭和１５年
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型式：Ｂ２型∥対物レンズ：１０倍／Ｎ．Ａ．０．３∥２０倍／Ｎ．Ａ．０．４∥４０倍／Ｎ．Ａ．０．６５∥接眼レンズ：５倍∥製造会社：ユニオン光学（株）（日本）∥製造時期：昭和２４年４月
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ステム径：φ３０ｍｍ∥測定範囲：±１０μｍ∥目量：０．２μｍ∥製造者：ヨハンソン社（スウェーデン）∥備考：ねじり薄片拡大機構をもつ比較測長器として昭和２０年に開発された。ベアリングメーカ等にて目量０．０２μｍのものが多く用いられ、電気マイクロメータに対抗して機械技術者に愛用された。∥製造時期：昭和２５年頃
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測定法：構成する標準尺と基準尺とを平行に並べ横断的に一諸に移動させて、各測微顕微鏡で目盛線の位置を比較し、長さの値を求める。∥測定長：１０００ｍｍ∥比較精度：０．５μｍ∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和１５年頃
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測定範囲：±１０分∥目量：１秒∥製造者：英国国立物理学研究所（英）∥備考：１９２０年にＮＰＬがオートコリメータを発明した。これをもとにＨｉｌｇｅｒ＆Ｗａｔｔｓ社が製品化した。∥製造時期：大正１０年頃
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型式：Ｐ２１５∥スクリーンサイズ：４６０×５６０ｍｍ∥倍率：１０倍、２０倍、５０倍、１００倍∥製造者：ヘンリーハウザー社（スイス）∥製造時期：昭和２６年
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用途：プリズムの角度、屈折角の測定∥最小読取値：０．１秒∥製造者：分光計，オートコリメータ・・・シップ社（スイス）∥１８面鏡及びオートコリメータ・・・ヒルガーワット社（英）∥製造時期：分光計・・・昭和２５年頃∥１８面鏡・・・昭和５０年頃
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測定範囲：０－２５０ｍｍ∥目量：０．００１ｍｍ∥最小読取値：０．０００１ｍｍ∥製造者：シップ社（スイス）∥備考：第二次大戦後、高度成長時代に製造業検査室にて活躍∥製造時期：昭和２８年
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測長器∥測長範囲（Ｘ軸）∥外側：０－４５０ｍｍ∥内側：１－２００ｍｍ∥目量：１μｍ∥標準尺目盛範囲：０－１００ｍｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度：±（１．２＋Ｌ／１００）μｍ∥≒１．７μｍ（ｉｎ５０ｍｍ）∥製造者：カールツァイス・イエナ社（東独）∥備考：第二次大戦後、高度成長時代に製造業検査室にて活躍∥製造時期：昭和３０年頃
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測定テーブルストローク：Ｘ１２５ｍｍＹ５０ｍｍ∥目量：０．０１ｍｍ∥最小読取値：１μｍ∥角度目量：１分∥総合倍率：３０倍∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥備考：第二次大戦後、高度成長時代に製造業検査室にて活躍∥製造時期：昭和３２年頃
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方式：流量式∥測定範囲：－２０～０～＋２０μｍ∥目量：１μｍ∥製造者：（株）東京測範（日本）∥備考：高度成長時代、製造業検査室にて活躍。また、生産ラインの中にて加工の自動化にこの応用測定機が用いられた。∥製造時期：昭和３０年頃
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測定方法：日本国メートル原器からメートル副原器、また副原器から一次標準尺の１ｍの値を決めるために用いた。例えば、右側に原器、左側に副原器というように、この２本を、直列に一直線上にあわせ込んで、１ｍを比べたので縦動比較器と名付けられた。木の部分の中は水槽で水は温度が変わりにくく、測定の温度を一定にするために用いた。∥世界で９台しか無い測定機で、長さの標準が光波長に変ったため不用になり、昭和６３年（１９８８）３月工業技術院計量研究所より払下げを受けた。∥比較精度：０．２μｍ／１０００ｍｍ∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和３２年
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測定範囲：０－２００ｍｍ∥目盛範囲：±２０μｍ∥目量：０．２μｍ∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥特徴：指示部が拡大投影され、読取りが容易となった。∥製造時期：昭和３２年
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拡大方式：レバー∥ステム径：φ２８ｍｍ∥測定範囲∥０～２００ｍｍ∥指示範囲：±18μｍ∥目量：０．５μｍ∥製造者：ＶＥＢ精密測定器製作所（東独）∥製造時期：昭和３２年
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測定範囲∥内径：７－１５０ｍｍ∥最大深さ：５０ｍｍ∥目量及び最小読取値：２μｍ及び０．１μｍ∥製造者：コベントリー社（英）∥参考：英国立物理学研究所の内径測定精度向上の一つとして開発されたもので日本に１５台輸入された。∥製造時期：昭和３４年頃
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型式：ＭＵ－２１４Ｂ∥測定範囲∥Ｘ：０－４００ｍｍ∥Ｙ：０－１００ｍｍ∥Ｚ：０－２０ｍｍ∥（１２５ｍｍまで可能）∥目量：０．５μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥回転テーブル径：２００ｍｍ∥最小読取角度：１５分∥測定精度：±（０．５＋Ｌ／４００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥製造者：シップ社（スイス）∥特徴：Ｚ軸スケールは別取付され、三次元座標測定機へ発展する一段階の測定器∥製造時期：昭和３５年頃
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型式：ＰＰ－１１型∥スクリーンサイズ：５００×５００ｍｍ∥倍率：１０、２０、５０、１００倍∥製造者：ライツ社（西独）∥製造時期：昭和３２年
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型式：ＴＴ５１１∥スクリーンサイズ：φ５１０ｍｍ∥倍率：１０、２５、５０、１００倍∥製造者：ヒルガーワット社（英）∥製造時期：昭和３４年
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測定範囲：０－４ｉｎ∥マイクロメータヘッド∥差動範囲：０－１ｉｎ∥目量：０．０００１ｉｎ∥ダイヤルゲージ∥指示範囲：±０．００１ｉｎ∥目量：０．００００５ｉｎ∥製造者：ブラウン・シャープ社（米）∥製造時期：昭和３５年頃
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被検レンズ直径：２４～９０ｍｍ∥頂点屈折力：０～±２５Ｄ∥最小目盛：０．１２５Ｄ，０．２５Ｄ∥ターゲット：コロナのターゲット∥視度調整：＋３Ｄ～－５Ｄ∥府仰角度：２５～９０度∥製造者：（株）トプコン（日本）∥製造時期：昭和３５年頃
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ステイ径：２８ｍｍ∥測定範囲：±１８μｍ∥目量：０．５μｍ∥製造者：ＶＥＢ精密測定器製作所（東独）∥製造時期：昭和４０年頃
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測定対象：マイクロメータ測定面の平行度検査∥適用範囲：測定範囲６００ｍｍまでの外側マイクロメータ∥オートコリメータ∥測定範囲：３０分∥目量：１０秒∥精度：６秒∥製造者：ヒルガー・ワッツ社（英）∥製造時期：昭和３５年頃
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目盛範囲：０－１００ｍｍ∥測長範囲：０－２００ｍｍ∥接眼目盛：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度（０～１００ｍｍ）：±（１．５＋Ｌ／４００）μｍ∥測定精度（１００～２００ｍｍ）：±（１．２＋１５０）μｍ∥製造者：カールツァイス・イエナ社（東独）∥製造時期：昭和３６年
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測定範囲∥外側：０～２５５ｍｍ∥内側（リングゲージ）：２０～２５３ｍｍ∥目量：１μｍ∥測定力：２、５、１０Ｎ（２００、５００、１０００ｇｆ）∥マジックアイＯＮ∥精度：±（０．５＋０．０２Ｌ）μｍ∥ここでＬは測定長ｍｍ∥製造者：三井精機工業（株）（日本）∥備考：高度成長時代に三井精機、津上が測長器を作り、ＳＩＰ及びＺｅｉｓｓに対抗して多量に生産され輸出もされた。∥製造時期：昭和４１年
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測定範囲∥径：φ０．０５－２ｍｍ∥測定深さ：４ｍｍ∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度∥φ０．５－２ｍｍ：±（０．８＋１．３／ｎ）μｍ∥φ０．５ｍｍ以下：±（０．５＋１．６／ｎ）μｍ∥ｎ＝測定回数∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥特徴：直径３０μｍ、１００μｍのガラス測定子の測定物への接触状況を顕微鏡でとらえ座標値を求めて座標値より寸法を決めた。∥製造時期：昭和４３年
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測定範囲：Ｘ：２５０ｍｍ∥Ｙ：１２５ｍｍ∥Ｚ：７５ｍｍ∥最小表示量：０．１μｍ（１０μｉｎ）∥照明法：落射及び透過照明∥明視野及び暗視野切換∥統合倍率：１０～５００倍∥製造者：（株）オリンパス（日本）∥備考：このオリンパス製のほか、トプコン他光学メーカーがこの種の測定顕微鏡を多く作製し、輸出も行った。∥製造時期：昭和５５年
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目盛範囲：０－１００ｍｍ∥測定範囲：２００ｍｍ∥目量：１μｍ∥指示測微器読目量：０．１μｍ∥測定精度：±（０．６＋Ｌ／１０００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥製造時期：昭和５０年頃
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座標検出：オプチカルフィーラ及び顕微鏡∥測定範囲：４００×２００×２００ｍｍ∥目量（投影スクリーン）：０．５μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥回転テーブル目量（スクリーン）：１ｓｅｃａｒｃ∥位置決めの不確かさ（２Σ）：０．６μｍ∥２平面間測定の不確かさ（２Σ）：１．４５μｍ∥円柱直径測定の不確かさ（２Σ）：１．５０μｍ∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和４６年
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座標検出：電子式プローブ（１次元）、顕微鏡∥測定範囲：４００×２２０×１５０ｍｍ∥目量：０．１μｍ∥最少読取値：０．１μｍ∥回転テーブル（目量）：１ｓｅｃａｒｃ∥位置決めの不確かさ：０．６μｍ∥２平面間、直径の寸法測定の不確かさ：１．５μｍ∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和５４年
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測定範囲：０－２００ｍｍ∥最小表示値：０．２μｍ∥測定対象面の検出：パーフレクトメータ光軸に対する最大傾き：１：１７∥デジタルスケール：光学格子∥製造者：ライツ社（ドイツ）∥特徴：穴の面にスリット光を投光し、反射の度合にて位置決めする装置が基本検出方式である。当初は万能測定顕微鏡の付属測定装置として用いられた。∥製造時期：昭和６２年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館（沼田記念館・測定機器館）
大きさ：３００×３００ｍｍ∥幅：５０ｍｍ∥測定範囲：－０．０５～＋０．０５ｍｍ／ｍ∥感度：０．０１ｍ／ｍ∥製造者：（株）富士精密機器製作所（日本）∥製造時期：昭和４２年
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粗目盛の目量：１ｍｍ／ｍ≒３．４′∥細目盛の目量：０．０１ｍｍ／ｍ≒２″∥気泡管の感度：２０″／２ｍｍ∥気泡変位：０．８ｍｍ／２″∥測定範囲：±１０ｍｍ／ｍ≒±３４′∥精度：９～１１ｍｍ／ｍで±０．０１ｍｍ／ｍ≒２″∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥特徴：レンズ系によって上部窓中央に気泡端が並んで見えるように構成され、傾きによって両気泡端が逆方向に移動する。この両気泡端が合致するように上部つまみを回転調整して合致点の目盛値を読み取り、角度を求める。∥製造時期：昭和５０年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館（沼田記念館・測定機器館）
検出方式：１００Ｈｚ，１．５μｍで振動する触針を光てこで拡大し包絡線を求める∥Ｆｏｒｅｓｔｅｒ方式∥記録長さ：１００ｍｍ∥拡大倍率：２５０，１０００，２５００倍∥横倍率：２０～１０００倍∥記録誤差：０．５μｍ∥製造者：ライツ社（独）∥製造時期：昭和３０年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館（沼田記念館・測定機器館）
