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ダイヤルゲージ

測定範囲:0-10∥目量:0.01mm∥製造国:旧ソビエト連邦(露)∥製造時期:昭和35年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館(沼田記念館・測定機器館)  


マイクロメータ

測定範囲:0-25mm∥目量:0.01mm∥ねじピッチ:1mm∥製造者:ホンメル社(独)∥特徴:ねじ1回転1mmをやや太いシンブル目盛1/100で読取る。0.5mmの読間違いがない。∥製造時期:昭和35年頃

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ダイヤルノギス

測定範囲:0-200mm∥目量:0.1mm∥製造者:(株)尾崎製作所(日本)∥特徴:本尺目盛は10mmごとの刻線。∥製造時期:昭和35年頃

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ドリル刃先検査器

測定対象:φ3-8用∥φ8-30用∥製造者:カールツアイス社(独)∥ドリルをこの検査器のV型台におき、刃先を顕微鏡で観察する。∥製造時期:昭和35年頃

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デプスゲージ

目盛範囲:0-200mm∥最小読取値:0.05mm∥製造者:KИ印(露)∥製造時期:昭和35年頃

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ダイヤルノギス

測定範囲:0-170mm∥0-7in∥内側:0.4-7in∥目量:0.1mm∥1/1000in∥製造者:ヘリオス社(ドイツ)∥製造時期:昭和35年頃

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マイクロメータ(鋼板厚み測定用)

測定範囲:0-25mm∥目量:0.01mm∥フレームの深さ:150mm∥製造者:不二越鋼材工業Nachi印(日本)∥特徴:フレームが深く、幅広い対象に対応できる。∥製造時期:昭和38年

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ノギス

測定範囲:0-250mm∥0-10in∥最小読取値:0.05mm∥1/128in∥(1/1000in)∥製造者:マルチプロ社(ドイツ)∥特徴:ゼロ位置側ジョーが50mm(0.05mm設定可)の上下移動ができる。これにより測定物に対応する。∥製造時期:昭和42年

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カンシームマイクロメータ

測定範囲:0-12mm∥目量:0.01mm∥製造者:FWP社(ポーランド)∥特徴:カンシーム幅の測定に用いるが、電線太さにも対応できる。∥製造時期:昭和43年

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ダイヤルノギス

測定範囲:0-6in∥目量:0.001in∥製造国:日本∥供給者:モダンツ-ル社(米)∥製造時期:昭和43年

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内側マイクロメータ(継たしロッド型)

測定範囲:75-176mm∥本体:75-88∥継足ロッド:50mm,25mm,13mm各1∥目量:0.01mm∥製造者:FWP社(ポーランド)∥特徴:74.985mmの基準器を設え、チェックが可能。∥製造時期:昭和43年

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R(半径)ゲージ

範囲:15.5-25mm∥凹面及び凸面用∥0.5mmとび各15枚∥製造者:FWP社(ポーランド)∥特徴:機械部角のコーナー部のR曲率の測定ができる。製造時期:昭和43年

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替駒式ねじマイクロメータ

測定範囲:25-50mm∥目量:0.01mm∥製造者:FWP社(ポーランド)∥特徴:アンビル、測定スピンドル、測定部の交換により各種ねじの測定ができる∥製造時期:昭和43年

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角度定規

測定範囲:±180度∥最小読取値:5分∥製造者:FWP社(ポーランド)∥特徴:拡大鏡により目盛を拡大して読取りが容易になる。∥製造時期:昭和43年

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デプスゲージ

測定範囲:0-250mm∥最小読取値:0.02mm∥ロッドの差換により外側測定ができる∥製造者:FWP社(ポーランド)∥特徴:深さ測定、段差測定ができ、ロッドの差し換えによって外観、厚さなどの測定が出来る。製造時期:昭和43年

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オフセットノギス

測定範囲:25-500mm∥最小読取値:0.05mm∥製造者:大菱計器製作所(日本)∥製造時期:昭和45年頃

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カウンタ・ダイヤルゲージ付ハイトゲージ

(記念館に展示)∥測定範囲:0-300mm∥目量:0.01mm(ダイヤルゲージ)∥製造者:三豊製作所(現ミツトヨ)(日本)製造時期:昭和45年

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ベンチマイクロメータ

測定範囲:0-25mm∥目量:0.01mm∥製造者:マウザー社(独)∥製造時期:昭和45年頃

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カウントマイクロメータ(スプライン型)

(記念館に展示)∥測定範囲:0-25mm∥目量:0.01mm(最小表示量)∥製造者:三豊製作所(現ミツトヨ)(日本)∥特徴:機構式カウンタによりディジタル表示される。アナログ目盛による読取りもできる。∥製造時期:昭和47年

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カウントマイクロメータ

測定範囲:0-25mm∥目量:0.01mm∥(最小表示量)∥製造者:セイリック(独)∥特徴:機構式カウンタによりディジタル表示される。アナログ目盛による読取りもできる。∥製造時期:昭和45年頃

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カウントマイクロメータ

測定範囲:0-1in∥目量:0.001in∥最小読取値:バーニャにより0.0001in∥製造者:テサ社(スイス)∥ブランド:ブラウン・シャープ社(米)∥特徴:0.0から0.10inの0.005in毎の数値を表示。カウンタで読取りができ、読取り難いインチの値が得られ便利。∥製造時期:昭和45年頃

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カウントマイクロメータ

測定範囲:0-1in∥目量:0.001in∥(最小表示量)∥製造者:スターレット社(米)∥特徴:0.001inが機構式カウンタで読み取れる。∥製造時期:昭和45年頃

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カウントマイクロメータ

測定範囲:0-1in∥目量:0.001in∥製造者:スローコム社(米)∥特徴:カウンタ表示以下0.0001inをバーニャ目盛で読取ることが出来る。∥製造時期:昭和45年頃

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指示マイクロメータ

測定範囲:0-25mm∥目量:0.001mm∥製造者:フェデラル社(米)∥特徴:微小寸法の差をもつ品物の測定に適している。∥製造時期:昭和45年頃

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マイクロメータ(インチ/ミリダブル目盛付)

インチ目盛(黒)∥測定範囲:0-1in∥目量:0.001in∥ミリ目盛(赤)∥測定範囲:0-25mm∥目量:0.01mm∥ねじピッチ:0.02in∥製造者:シェフィールド社(英)∥製造時期:昭和45年頃

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マイクロメータ

測定範囲:0-25mm∥目量:0.01mm∥ねじピッチ:1mm∥製造者:マウザー社(独)∥製造時期:昭和45年頃

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3点式内径マイクロメータ

測定範囲:15-20mm∥目量:0.01mm∥最小読取値:バーニャ目盛で0.002mm∥製造者:テサ社(スイス)∥特徴:円筒内面に3点で接触し測定する。∥製造時期:昭和45年頃

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直角定規

大きさ:短辺90mm∥長辺115mm∥製造者:(株)加藤精密工具製作所(日本)∥製造時期:昭和46年頃

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ノギス(外側測定面超硬チップ付)

(記念館に展示)∥測定範囲:0-15cm∥最小読取量:0.05mm∥製造者:三豊製作所(現ミツトヨ)(日本)∥製造時期:昭和47年

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コンビマイクロメータ(in/mm併用)

(記念館に展示)∥測定範囲(目量)∥シンブル:0-1in(0.001in)∥カウンタ:0-25mm(0.01mm)∥シンブルmm読みとカウンタin読みの2種の仕様がある。輸出専用でミツトヨ独自の製品であり、ある外国メーカーが追従した。∥製造者:三豊製作所(現ミツトヨ)(日本)∥製造時期:昭和47年

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指示調整限界挟みゲージ(片側替アンビル)

測定範囲:0~30mm∥目量:10μm∥精度:2μm∥製造:矢沢精器工業(株)(日本)∥製造時期:昭和49年

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3点式内側マイクロメータ

(記念館に展示)∥測定範囲:80-90mm∥目量:0.005mm∥製造者:三豊製作所(現ミツトヨ)(日本)∥製造時期:昭和48年

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マイクロメータ

測定範囲:0-0.5in∥目量:0.001in∥製造国:アメリカ∥製造時期:昭和50年

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内側ダイヤルキャリパ

測定範囲:30-50mm∥目量:0.01mm∥製造者:(株)ピーコック(日本)∥製造時期:昭和45年頃

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デジタルマイクロメータ

測定範囲:0-25mm∥最小表示量:0.001mm∥製造者:ムーア・ライト社(英)∥特徴:測定子スピンドルは直進し回転しない∥製造時期:昭和54年

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デジタルマイクロメータ

測定範囲(最小表示量):0-38mm(0.002mm)∥0-1.5in(0.0001in)∥製造者:ダナトロン社(米)∥特徴:測定スピンドルは直進して測定物に接触する∥製造時期:昭和54年

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デジタルマイクロメータ

(記念館に展示)∥測定範囲:0-25mm∥最小表示量:0.001mm∥製造者:三豊製作所(現ミツトヨ)(日本)∥製造時期:昭和54年

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デジタルマイクロメータ

測定範囲:0-25∥0-1in∥最小表示量:0.001mm∥0.0001in∥製造者:マイクロメータ,イタリア(伊)∥製造時期:昭和54年頃

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マイクロメータ

測定範囲:0-1in∥目量:0.001in∥人造ルビーチップ付∥製造者:ツミコ社(米)∥製造時期:昭和55年頃

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ウィットワース測長機

測定範囲:0-72in∥目量:0.0001in∥副尺による最小読取値:0.00001in∥基準ねじ:2條角ねじ,ピッチ1/4in∥製作者:ウィット・ワース(1803-1887)(英)∥英国マンチェスター工科大学の所蔵品であった∥特徴:右端にある円輪直径訳300mmで拡大読取りができる∥参考:1850年に1/1,000,000in(0.025μm)測定器をWhitworthは作製している。同じ時期に測定範囲25mm、及び380mm測定器を作製している。∥製作時期:1853年

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測長機

測定範囲:0-1000mm∥目量:0.001mm∥最小読取値:0.1μm∥製造者:シップ社(スイス)∥参考:SIP社は1909年に標準尺をはじめて用いた1m測長機を開発した。∥製作時期:大正9年頃

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縦型オプチメータ

測定範囲:0-150mm∥目盛範囲:±83μm∥目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥製造者:カール・ツアイス社(独)/参考:Zeissは1922年に開発、横型の光てこ式比較測長器をUKのNPL(物理学研究所)が開発している。∥製造時期:昭和2年頃

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顕微鏡付スケール

測定範囲:0-200mm∥最小読取値:0.02mm∥製造者:島津製作所(日本)製造時期:昭和2年頃

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ねじコンパレータ

測定対象:ねじ有効径∥測定範囲:0-1in∥目量:0.0005in∥製造者:フェデラル社(米)∥製造時期:大正14年頃

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アッベ式縦型測長器

測定範囲:0-100mm∥適用範囲:200mm∥目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥測定精度:±(0.5+L/400)μm∥L=測定長mm∥製造者:カール・ツアイス社(独)∥参考:1890年Abbeはアライメントに関する原理(アッベの原理)を発見し、この測長器の元である標準尺が外から見える測長器を1890年に開発した。∥製造時期:昭和5年頃

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万能測定顕微鏡

測定台の移動範囲:X200mmY50mm∥接眼目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥総合倍率:30倍∥角度接眼最小目量:1分∥製造者:カール・ツアイス社(独)∥備考:けがき針機構を備えている。∥製造時期:昭和5年頃

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膜厚計(レプトスコープ1)

測定範囲:0-220μm∥最小目量:2μm∥製造者:カール・ドイツK.G.(独)∥製造時期:昭和5年頃

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横型オプチメータ

測定範囲:0-250mm∥目盛範囲:0-100μm∥目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥測定精度:±(0.5+L/100)μm∥L=測定長mm∥繰返し精度:±0.25μm∥製造者:カール・ツアイス社(独)∥備考:第二次大戦後、わが国高度経済成長時代に生産企業の検査室で活躍した。∥製造時期:昭和5年頃

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万能横型測長器

測定範囲(X軸):∥外側(高さ50迄):0-250mm∥内側(深さ40迄):10-190∥接眼目量 :1μm∥標準尺目盛範囲:0-100mm∥移動量:Z(上下)∥0-75mm∥製造者:カール・ツアイス(独)∥備考:横型オプチメータとベッドが共用できる。∥第二次大戦後、上記横型オプチメータと同様に高度成長時代を支えた。∥製造時期:昭和15年頃

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投影検査機

型式:AM20∥スクリーンサイズ:16×10in∥倍率:50倍∥製造者:RSウイルダ社(米)∥製造時期:昭和5年頃

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