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測定範囲（目量）：±0.4μm（0.1μm）∥±4μm（0.1μm）∥±40μm（1μm）∥繰り返し精度：1目盛以内∥測定力：180gf±20gf（1.8N±0.2N）∥製造者：ミツトヨ（日本）∥特徴：ストレンジゲージを用いた高感度検出器。昭和38年度日刊工業新聞社選定10大新製品∥開発時期：昭和38年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館 
型式：コントレーサCA-101∥測定範囲：水平方向100mm, 垂直方向：20mm∥測定力：約2gf（可変）∥スタイラス先端半径：0.025mm∥スタイラス送り速度：0.2mm/s∥記録倍率：5, 10, 20, 50, 100倍∥製造者：ミツトヨ（日本）∥特徴：蝕針により輪郭形状をトレースし、変位を差動トランスにより検出して拡大記録する。世界初の商品。∥開発時期：昭和46年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
高さ測定範囲：5－305mm∥最小表示量：0.001mm∥製造者：ミツトヨ（日本）∥特徴：ハイトチェックマイクロメータからハイトマスタに改称された改良型品∥開発時期：昭和32年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：EA-2∥測定範囲：0－25mm, 0－1ｲﾝﾁ∥最小表示量：0.001mm, 0.004ｲﾝﾁ∥測定力：0.1N∥製造者：ミツトヨ（日本）∥開発時期：昭和37年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：φ3.5－φ300mm∥目量：5μm, 1μm, 0.2μm（切替）∥製造者：ミツトヨ（日本）∥特徴：検出器として電気マイクロメータを使用し精密部品の内径、内側寸法の比較測定が迅速にできる。内径ゲージのキャリブレーション用として最適である。∥開発時期：昭和37年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
製造者：ミツトヨ（日本）∥特徴：東京都工業奨励館と共同研究によるマジックアイを利用したスコヤ検査器。マジックアイによる高感度な接触誤差（0.5μm）で被検物に測定力が加わらないため、個人誤差のない高精度で、しかも迅速な測定ができる。比較測定、絶対測定いづれも可能。∥開発時期：昭和41年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－280mm, 0－1ｲﾝﾁ∥最小表示量：0.002mm（バーニヤ読み）∥製造者：ミツトヨ（日本）∥特徴：精密内径測定器の特別付属品 20mmとびのゲージブロック測定面と、マイクロメータ、スピンドル測定面との間隔を所望の寸法にセットして使用する。∥開発時期：昭和46年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－450mm∥最小表示量：1/20mm（バーニヤ読み）∥製造者：ミツトヨ（日本）∥特徴：スナップ・ルールを利用した携帯便利な1/20mmバーニヤ目盛付巻尺ノギス。改善提案によって生まれた製品。本尺全長はこの他に1000mm・2000mmがある。∥開発時期：昭和46年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：CX-652∥測定範囲：X 600mm, Y 500mm, Z 200mm∥目量：0.01mm（ダイヤルゲージ）∥製造者：ミツトヨ（日本）∥特徴：測定工具感覚で使える簡易三次元測定機。二本柱ハイトゲージの設計思想が生かされている。ドイツ・ミュンヘン科学博物館の展示品として納入され、ポーテージ型のオリジナルとされている。∥開発時期：昭和51年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
ゲージブロック応用製品∥測定範囲：40ｲﾝﾁ∥チェックステップ：4ｲﾝﾁ∥製造者：ミツトヨ（日本）∥特徴：ゲージブロックを測定目的に従った組合せで固定したもので工作機械の送り精度や、大形測定機の精度検査にミツトヨで開発され、使用されている。また測定範囲及びチェックステップに数種類が用意されている。∥開発時期：昭和52年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
