「」 に対する検索結果 : 26836件

型式:タリサーフ4型∥パラメータ:Ra,Ry,Rq,Rz 等∥測定範囲∥Ry:0.01~100μm∥Ra:0.005~10μm∥評価長さ:0.25, 0.8, 2.5mm∥記録縦倍率:500~100,000倍∥8段階∥記録横倍率:10~100倍∥製造者:テーラーホブソン(英)∥製造時期:昭和38年
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型式:ホンメルテスタT∥パラメータ:Ra,Rp,Rt等∥測定範囲∥Ra,Rp:0.1~30μm∥Rt:0.3~100μm∥評価長さ:0.36,2,6.3,20mm∥記録縦倍率∥断面曲線:100~30,000倍∥粗さ曲線:300~100,000倍∥記録横倍率:10~1000倍∥製造者:ホンメルベルケ社(西独)∥製造時期:昭和40年
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型式:タリリン1型∥測定長さ:100mm∥タテ倍率:200, 400, 1000, 2000, 4000, 10000倍∥ヨコ倍率:2, 5, 10倍∥製造者:ランク・テラー・ホブソン社(英)∥製造時期:昭和40年
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型式:タリロンド51∥測定容量∥測定物の内外径:350mm∥測定物の高さ:406mm∥耐荷量:63kg∥回転スピンドルの回転精度:0.025μm∥最小目量:0.1μm∥製造者:ランク・テーラホブソン社(英)∥製造時期:昭和40年頃
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型式:タリロンド100型∥最大測定可能直径:φ245mm∥最大積載質量:18kg∥回転速度:6rpm∥最小目量:0.2μm∥検出器測定力:0.02N~0.15N∥製造者:ランク・テーラ・ホブソン社(英)∥製造時期:昭和41年
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測定対象:機械部品の表面粗さ∥測定範囲:0.03~1μm Rmax∥顕微鏡倍率:60,120倍∥製造者:オリンパス光学工業(日本)∥参考:工業技術院機械試験所朝永良夫部長考案の光学系を用い、朝永・オリンパスの頭文字からTO式と名付けた。∥製造時期:昭和26年
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パラメータ:Rz(最大高さ粗さ)∥対物レンズ:4,10,20倍∥測定範囲:1~500μm Rz∥製造者:中央電子計算機(日本)∥備考:この後の電気的測定機の発展により、光切断法は鋼版切口状態の判定に用いている。∥製造時期:昭和32年頃
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形式:ペルトメータ、万能型S4BD/4∥パラメータ:Ra,Rp,Rt,W,tp等∥測定範囲:表面粗さ0.01~25μm∥ウェービネス∥0.3~100μm∥評価長さ:0.025~8mm∥記録縦倍率:断面曲線400~1,000,000倍∥記録横倍率:10~1,000倍∥製造者:ペルテン社(西独)∥製造時期:昭和45年頃
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型式:フジノンFM40∥測定方式:投影格子型モアレ縞∥画像カメラ撮影観測方式∥測定対象:生体形状、工学的プレス加工部品の形状等∥測定方法:測定物体に格子像を投影し、物体形状によって生じるモアレ縞画像を撮影し、その画像から立体形状を求める。∥製造者:富士写真光機(株)(日本)∥製造時期:昭和54年
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