「」 に対する検索結果 : 26836件
測定範囲∥外側：0－255mm∥内側（リングゲージ）：20－253mm∥目量：1μm∥測定力：2, 5, 10N（200, 500, 1000gf）∥マジックアイON∥精度：±（0.5＋0.02L）μm∥ここでＬは測定長mm∥製造者：三井精機工業（日本）∥備考：高度成長時代に三井精機、津上が測長器を作り、SIP及びZeissに対抗して多量に生産され輸出もされた。∥製造時期：昭和41年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館 
測定テーブル移動範囲：X100mm, Y50mm∥目量：5μm∥角度目量：10分∥対物レンズ：5倍∥接眼レンズ：10倍∥製造者：オリンパス光学工業（日本）∥製造時期：昭和43年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲∥径：φ0.05－2mm∥測定深さ：4mm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度∥φ0.5－2mm：±（0.8＋1.3/n）μm∥φ0.5mm以下：±（0.5＋1.6/n）μm∥n＝測定回数∥製造者：カール･ツアイス・イエナ社（東独）∥特徴：直径30μm、100μmのガラス測定子の測定物への接触状況を顕微鏡でとらえ座標値を求めた。座標値より寸法を決めた。∥製造時期：昭和43年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲∥200mm∥標準尺目量：1mm∥測微接眼鏡の目量：1μm∥最小表示値：0.1μm∥測定対象面の検出：パーフレクトメータ∥光軸に対する最大傾き：1：17∥製造者：エルンスト･ライツ社（独）∥製造時期：昭和35年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定方法：測定すべき内径測定物を左テーブルに、ブロックゲージを組んだ基準器を右テーブルにセットし、それぞれの測定力を上部の電気マイクロメータで調整する。測定線上にある中央の差動変圧器による比較測定値を得る。測定範囲：φ7～150mm∥測定精度：±0.2μm∥製造者：工業技術院計量研究所、東京精密（日本）∥製造時期：昭和39年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：Ｘ：250mm∥Ｙ：125mm∥Ｚ：75mm∥最小表示量：0.1μm（10μｲﾝﾁ）∥照明法：落射及び透過照明∥明視野及び暗視野切換∥統合倍率：10～500倍∥製造者：オリンパス（日本）∥備考：このオリンパス製のほか、トプコン他光学メーカーがこの種の測定顕微鏡を多く作製し、輸出も行った。∥製造時期：昭和55年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
目盛範囲：0－100mm∥測定範囲：200mm∥目量：1μm∥指示測微器読目量：0.1μm∥測定精度：±（0.6＋L/1000）μm∥L＝測定長mm∥製造者：カール･ツアイス･イエナ社（東独）∥製造時期：昭和50年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
座標検出：オプチカルフィーラ及び顕微鏡∥測定範囲：400×200×200mm∥目量（投影スクリーン）：0.5μm∥最小読取値：0.5μm∥回転テーブル目量（スクリーン）：1sec arc∥位置決めの不確かさ（2Σ）：0.6μm∥2平面間測定の不確かさ（2Σ）：1.45μm∥円柱直径測定の不確かさ（2Σ）：1.50μm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和46年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
座標検出：電子式プローブ（1次元）、顕微鏡∥測定範囲：400×220×150mm∥目量：0.1μm∥最少読取値：0.1μm∥回転テーブル（目量）：1sec arc∥位置決めの不確かさ：0.6μm∥2平面間、直径の寸法測定の不確かさ：1.5μm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和54年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－200mm∥最小表示値：0.2μm∥測定対象面の検出：パーフレクトメータ光軸に対する最大傾き：1：17∥デジタルスケール：光学格子∥製造者：エルンストライツ社（ドイツ）∥特徴：穴の面にスリット光を投光し、反射の度合にて位置決めする装置が基本検出方式である。当初は万能測定顕微鏡の付属測定装置として用いられた。∥製造時期：昭和62年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
