万能投影検査器

型式：PP-11型∥スクリーンサイズ：500×500mm∥倍率：10, 20, 50, 100倍∥製造者：ライツ社（ドイツ）∥製造時期：昭和32年

型式：TT511∥スクリーンサイズ：φ510mm∥倍率：10, 20, 50, 100倍∥製造者：ヒルガー・ワッツ社（英）∥製造時期：昭和34年

横型比較測長器（ベンチコンパレータ）

測定範囲：0－4ｲﾝﾁ∥マイクロメータヘッド・・・差動範囲：0－1ｲﾝﾁ∥目量：0.0001ｲﾝﾁ∥ダイヤルゲージ・・・指示範囲：±0.001ｲﾝﾁ∥目量：0.00005ｲﾝﾁ∥製造者：ブラウン・シャープ社（米）∥製造時期：昭和35年頃

被検レンズ直径：24～90mm∥頂点屈折力：0～±25D∥最小目盛：0.125D，0.25D∥ターゲット：コロナターゲット∥視度調整：＋3D～－5D∥府仰角度：25～90度∥製造者：トプコン（日本）∥製造時期：昭和35年頃

測定範囲：0－25mm∥目量：1μm∥製造者：東京計測機製作所∥製造時期：昭和39年

型式：SIP MI-6A∥拡大方式：てこ+光てこ∥測定範囲：±10μm∥目量：0.1μm∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和25年

型式：シェフィールド 710型∥測定範囲：±0.05mm∥分解能：0.01mm∥判別方法：青 OK, 赤 NG∥製造者：シェフィールド社（米）∥製造時期：昭和35年

ステム径：28mm∥測定範囲：±18μm∥目量：0.5μm∥製造者：VEB精密測定器製作所（東独）

測定対象：マイクロメータ測定面の平行度検査∥適用範囲：測定範囲600mmまでの外側マイクロメータ∥オートコリメータ∥測定範囲：30分∥目量：10秒∥精度：6秒∥製造者：ヒルガー･ワッツ社（英）∥製造時期：昭和35年頃

目盛範囲：0－100mm∥測長範囲：0－200mm∥接眼目盛：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度（0－100mm）：±（1.5＋L/400）μm∥測定精度（100－200mm）：±（1.2＋L/150）μm∥製造者：カールツァイス・イエナ社（東独）∥製造時期：昭和36年

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