「」 に対する検索結果 : 26649

前の10件 (4901-4910/26649)    次の10件

表面粗さ測定機

型式:タリサーフ3型∥パラメータ:Ra,Rz,Rq,Rt等∥測定範囲:0.01~100μm∥Ra:0.01~10μm∥評価長さ:0.25~2.5∥記録縦倍率:500~100,000倍(メータ付)∥6段階∥記録横倍率:10~100倍∥製造者:テーラーホブソン(英)∥製造時期:昭和32年

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


真円度測定機

型式:タリロンド1型∥測定容量∥測定物の内外:350mm∥測定物の高さ:500mm∥荷重:200kg∥回転スピンドルの回転精度:0.025μm∥拡大率:100~20,000倍∥8段階∥最小目量:0.1μm∥製造者:テーラー・ホブソン社(英)∥備考:真円度測定機として世界で始めての機種である。∥製造時期:昭和29年

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


直角度検査器

測定範囲∥長辺の長さ:500mm∥短辺の長さ:400mm∥目量:1μm∥測定精度:0.5μm∥製造者:(株)藤田製作所∥特徴:垂直軸に対してセットした直角度基準器のスコヤを180°回転して反対側から垂直軸にあて、この2回の測微器の読みから直角度の値を求める。∥製造時期:昭和34年

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


テーパーゲージ検査器

型式:818K∥使用法:サインテーブルを用い傾け、正しいテーパ角度からの偏差を求める∥測定範囲:外側テーパ(内側テーパ)∥最大径:120mm(100mm)∥最大長さ:250mm(200mm)∥最大角度:30°(20°)∥測微器目量:0.5,1μm∥製造者:カール・マール社(独)∥製造時期:昭和35年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


表面粗さ測定機

形式:タリサーフ4型∥パラメータ:Ra,Ry,Rq,Rz等∥測定範囲∥Ry:0.01~100μm∥Ra:0.005~10μm∥評価長さ:0.25,0.8,2.5mm∥記録縦倍率:500~100,000倍∥8段階∥記録横倍率:10~100倍∥製造者:テーラー・ホブソン(英)∥製造時期:昭和38年

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


表面粗さ測定機

型式:ホンメルテスタT∥パラメータ:Ra,Rp,Rt等∥測定範囲∥Ra,Rp:0.1~30μm∥Rt:0.3~100μm∥評価長さ:0.63,2,6.3,20mm∥記録縦倍率∥断面曲線:100~30,000倍∥粗さ曲線:300~100,000倍∥記録横倍率:10~1000倍∥製造者:ホンメルベルケ社(西独)∥製造時期:昭和40年

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


真直度測定機

型式:タリリン∥測定長さ:100mm∥タテ倍率:200,400,1000,2000,4000,10000倍∥ヨコ倍率:2,5,10倍∥製造者:ランク・テーラー・ホブソン社(英)∥製造時期:昭和40年

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


真円度測定機

型式:タリロンド51∥測定容量∥測定物の内外径:350mm∥測定物の高さ:406mm∥耐荷量:63kg∥回転スピンドルの回転精度:0.025μm∥最小目量:0.1μm∥製造者:ランク・テーラー・ホブソン社(英)∥製造時期:昭和40年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


TO式顕微干渉計

測定対象:機械部品の表面粗さ∥測定範囲:0.03~1μmRmax∥顕微鏡倍率:60,120倍∥製造者:オリンパス光学工業(株)(日本)∥参考:工業技術院機械試験所朝永良夫部長考案の光学系を用い、朝永・オリンパスの頭文字からTO式と名付けた。∥製造時期:昭和26年

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


光切断表面粗測定器

パラメータ:Rz(最大高さ粗さ)∥対物レンズ:4,10,20倍∥測定範囲:1~500μmRz∥製造者:中央電子計算機(株)(日本)∥備考:この後の電気的測定機の発展により、光切断法は鋼版切口状態の判定に用いている。∥製造時期:昭和32年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


前の10件 (4901-4910/26649)    次の10件