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測定範囲∥径：φ０．０５－２ｍｍ∥測定深さ：４ｍｍ∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度∥φ０．５－２ｍｍ：±（０．８＋１．３／ｎ）μｍ∥φ０．５ｍｍ以下：±（０．５＋１．６／ｎ）μｍ∥ｎ＝測定回数∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥特徴：直径３０μｍ、１００μｍのガラス測定子の測定物への接触状況を顕微鏡でとらえ座標値を求めて座標値より寸法を決めた。∥製造時期：昭和４３年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館 
測定範囲：Ｘ：２５０ｍｍ∥Ｙ：１２５ｍｍ∥Ｚ：７５ｍｍ∥最小表示量：０．１μｍ（１０μｉｎ）∥照明法：落射及び透過照明∥明視野及び暗視野切換∥統合倍率：１０～５００倍∥製造者：（株）オリンパス（日本）∥備考：このオリンパス製のほか、トプコン他光学メーカーがこの種の測定顕微鏡を多く作製し、輸出も行った。∥製造時期：昭和５５年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
目盛範囲：０－１００ｍｍ∥測定範囲：２００ｍｍ∥目量：１μｍ∥指示測微器読目量：０．１μｍ∥測定精度：±（０．６＋Ｌ／１０００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥製造時期：昭和５０年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
座標検出：オプチカルフィーラ及び顕微鏡∥測定範囲：４００×２００×２００ｍｍ∥目量（投影スクリーン）：０．５μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥回転テーブル目量（スクリーン）：１ｓｅｃａｒｃ∥位置決めの不確かさ（２Σ）：０．６μｍ∥２平面間測定の不確かさ（２Σ）：１．４５μｍ∥円柱直径測定の不確かさ（２Σ）：１．５０μｍ∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和４６年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
座標検出：電子式プローブ（１次元）、顕微鏡∥測定範囲：４００×２２０×１５０ｍｍ∥目量：０．１μｍ∥最少読取値：０．１μｍ∥回転テーブル（目量）：１ｓｅｃａｒｃ∥位置決めの不確かさ：０．６μｍ∥２平面間、直径の寸法測定の不確かさ：１．５μｍ∥製造者：シップ社（スイス）∥製造時期：昭和５４年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：０－２００ｍｍ∥最小表示値：０．２μｍ∥測定対象面の検出：パーフレクトメータ光軸に対する最大傾き：１：１７∥デジタルスケール：光学格子∥製造者：ライツ社（ドイツ）∥特徴：穴の面にスリット光を投光し、反射の度合にて位置決めする装置が基本検出方式である。当初は万能測定顕微鏡の付属測定装置として用いられた。∥製造時期：昭和６２年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
大きさ：３００×３００ｍｍ∥幅：５０ｍｍ∥測定範囲：－０．０５～＋０．０５ｍｍ／ｍ∥感度：０．０１ｍ／ｍ∥製造者：（株）富士精密機器製作所（日本）∥製造時期：昭和４２年
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粗目盛の目量：１ｍｍ／ｍ≒３．４′∥細目盛の目量：０．０１ｍｍ／ｍ≒２″∥気泡管の感度：２０″／２ｍｍ∥気泡変位：０．８ｍｍ／２″∥測定範囲：±１０ｍｍ／ｍ≒±３４′∥精度：９～１１ｍｍ／ｍで±０．０１ｍｍ／ｍ≒２″∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥特徴：レンズ系によって上部窓中央に気泡端が並んで見えるように構成され、傾きによって両気泡端が逆方向に移動する。この両気泡端が合致するように上部つまみを回転調整して合致点の目盛値を読み取り、角度を求める。∥製造時期：昭和５０年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
検出方式：１００Ｈｚ，１．５μｍで振動する触針を光てこで拡大し包絡線を求める∥Ｆｏｒｅｓｔｅｒ方式∥記録長さ：１００ｍｍ∥拡大倍率：２５０，１０００，２５００倍∥横倍率：２０～１０００倍∥記録誤差：０．５μｍ∥製造者：ライツ社（独）∥製造時期：昭和３０年頃
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型式：タリサーフ３型∥パラメータ：Ｒａ，Ｒｚ，Ｒｑ，Ｒｔ等∥測定範囲：０．０１～１００μｍ∥Ｒａ：０．０１～１０μｍ∥評価長さ：０．２５～２．５∥記録縦倍率：５００～１００，０００倍∥６段階∥記録横倍率：１０～１００倍∥狭測定テーブル∥製造者：テーラーホブソン（英）∥製造時期：昭和３０年
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