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目盛範囲：0－100μm∥測定範囲：0－350mm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度：±（0.5＋L/100）μm∥L＝測定長mm∥繰返し精度：±0.25μm∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中、Ｚｅｉｓｓ横型オプチメータに代り製作された。∥製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館 
測定範囲：0－100mm∥目量：0.001mm∥最小読取値：0.1μm∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中ＳＩＰ万能測長器に代り作製された。∥製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－150mm∥指示範囲：±5μm∥目量：0.1μm（可変）∥最小読取値：0.01μm∥製造者：オリンパス光学・黒田挾範製作所（日本）∥備考：昭和27年工業技術院機械試験所、朝永良夫部長により考案された。測定子の微小変位をオプチカルフラットの傾きに変え、光波干渉縞（白色干渉）、黒線縞を指標とし、その移動から値を求めた。接眼鏡中の目盛をその干渉縞で校正して用いた。第1号機はオリンパス、第2号機はオリンパスと黒田精工によって製作された。∥製造時期：昭和37年頃
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ステム径：φ8mm∥目盛範囲：±25μm∥目量：0.5μm∥製造者：ヨハンソン社（スウェーデン）∥製造時期：昭和16年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定台移動距離：Ｘ200mm∥Ｙ100mm∥接眼目量：1μm∥角度接眼目量：1分∥センター間距離：700mm∥測定精度：±（1＋L/100）μm∥スパイラルマイクロスコープ：0.5μm∥製造者：カール･ツアイス社（独）∥備考：この測定器は第二次大戦直前ドイツからＵボートにて運び東京工大設置された。∥製造時期：昭和15年
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型式：BII型∥対物レンズ：10倍/N.A.0.3, 20倍/N.A.0.4, 40倍/N.A.0.65∥接眼レンズ：5倍∥製造会社：ユニオン光学（株）（日本）∥製造時期：昭和24年4月
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ステム径：φ30mm∥測定範囲：±10μm∥目量：0.2μm∥製造者：ヨハンソン社（スウェーデン）∥備考：ねじり薄片拡大機構をもつ比較測長器として昭和20年に開発された。ベアリングメーカ等にて目量0.02μmのものが多く用いられ、電気マイクロメータに対抗して機械技術者に愛用された。∥製造時期：昭25年頃
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