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型式：ＭＵ－２１４Ｂ∥測定範囲∥Ｘ：０－４００ｍｍ∥Ｙ：０－１００ｍｍ∥Ｚ：０－２０ｍｍ∥（１２５ｍｍまで可能）∥目量：０．５μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥回転テーブル径：２００ｍｍ∥最小読取角度：１５分∥測定精度：±（０．５＋Ｌ／４００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥製造者：シップ社（スイス）∥特徴：Ｚ軸スケールは別取付され、三次元座標測定機へ発展する一段階の測定器∥製造時期：昭和３５年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館 
測定範囲：０－４ｉｎ∥マイクロメータヘッド∥差動範囲：０－１ｉｎ∥目量：０．０００１ｉｎ∥ダイヤルゲージ∥指示範囲：±０．００１ｉｎ∥目量：０．００００５ｉｎ∥製造者：ブラウン・シャープ社（米）∥製造時期：昭和３５年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
被検レンズ直径：２４～９０ｍｍ∥頂点屈折力：０～±２５Ｄ∥最小目盛：０．１２５Ｄ，０．２５Ｄ∥ターゲット：コロナのターゲット∥視度調整：＋３Ｄ～－５Ｄ∥府仰角度：２５～９０度∥製造者：（株）トプコン（日本）∥製造時期：昭和３５年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定対象：マイクロメータ測定面の平行度検査∥適用範囲：測定範囲６００ｍｍまでの外側マイクロメータ∥オートコリメータ∥測定範囲：３０分∥目量：１０秒∥精度：６秒∥製造者：ヒルガー・ワッツ社（英）∥製造時期：昭和３５年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
目盛範囲：０－１００ｍｍ∥測長範囲：０－２００ｍｍ∥接眼目盛：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度（０～１００ｍｍ）：±（１．５＋Ｌ／４００）μｍ∥測定精度（１００～２００ｍｍ）：±（１．２＋１５０）μｍ∥製造者：カールツァイス・イエナ社（東独）∥製造時期：昭和３６年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲∥外側：０～２５５ｍｍ∥内側（リングゲージ）：２０～２５３ｍｍ∥目量：１μｍ∥測定力：２、５、１０Ｎ（２００、５００、１０００ｇｆ）∥マジックアイＯＮ∥精度：±（０．５＋０．０２Ｌ）μｍ∥ここでＬは測定長ｍｍ∥製造者：三井精機工業（株）（日本）∥備考：高度成長時代に三井精機、津上が測長器を作り、ＳＩＰ及びＺｅｉｓｓに対抗して多量に生産され輸出もされた。∥製造時期：昭和４１年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
