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測定範囲：0－250mm∥目盛範囲：0－100μm∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥測定精度：±（0.5＋L/100）μm∥Ｌ：測定長mm∥繰返し精度：±0.25μm∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：第二次大戦後、わが国高度経済成長時代に生産企業の検査室で活躍した。∥製造時期：昭和5年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館 
測定範囲（X軸）：∥外側（高さ50迄）：0－250mm∥内側（深さ40迄）：10－190mm∥接眼目量 ：1μm∥標準尺目盛範囲：0－100mm∥移動量：Z（上下）∥0－75mm∥製造者：カール・ツアイス（独）∥備考：横型オプチメータとベッドが共用できる。∥第二次大戦後、横型オプチメータと同様に高度成長時代を支えた。∥製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：エンビーコ・シリーズIIB∥スクリーンサイズ：230×180mm∥倍率：20倍∥製造者：ニューボード・ブルフォード社（英）∥製造時期：大正9年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲∥横方向：0－700mm∥垂直方向：0－100mm∥測定対象：全APIテーパねじゲージ他∥目量：1μm∥最小読取値：0.1μm∥角度接眼目量：1分∥製造者：SIP社（スイス）∥参考：アメリカ石油協会（ＡＰＩ）の規格にのっとったテーパねじケージの測定に用いた。API規格は世界中にて用いられている。このための自動車三次元測定機が1979年に計量研究所とミツトヨで開発された（ミツトヨ宇都宮歴史館に展示）。∥製造時期：昭和11年
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：MUL-1000∥測定範囲：0－1000mm∥目量：0.005mm∥最小読取値：0.1μm∥保証精度：±（0.6＋0.0009L）μm∥L＝測定長mm∥製造者：シップ社（スイス）∥備考：左側は測定対象に接触する測定、右側は光学像の測定、例えばねじれ角度等に用いたもので、第二次大戦後、わが国高度成長時代に製造業検査室にて活躍した。∥旧呉海軍工廠所有∥製作時期：昭和13年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：0－200mm∥目量（目盛範囲）∥1μm（±83μm）∥0.2μm（±10μm）∥最小読取値：0.01μm∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：光てこを二重に用いた高感度比較測長器である。電気マイクロメータ活用以前ブロックゲージ標準器の校正に用いた。∥製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：横型∥測定範囲：0－30mm∥目量：0.005mm∥最小読取値：0.5μm∥バーニヤ使用∥製造者：中村製作所（日本）∥特徴：ダイヤルゲージ目盛校正に用いた。∥参考：この後スタンド型の「ダイヤルゲージテスタ」などの校正器に代わった。∥製造時期：昭和14年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲（Ｘ軸）∥外側：0－250mm（高さ：0－50mm）∥内側：10－190mm（深さ：0－40mm）∥標準尺目盛範囲：0－100mm∥目量（顕微鏡）：1μm∥製造者：日本光学工業（現ニコン）（日本）∥備考：第二次大戦中欧州から輸入不可能時代にZeiss、SIPの測長器に代わり開発され使用された。製造時期：昭和15年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
