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測定範囲:0-72インチ∥目量:0.0001インチ∥副尺による最小読取値:0.00001インチ∥基準ねじ:2條角ねじ,ピッチ1/4インチ∥製作者:ウィット・ワース(1803-1887)(英)∥英国マンチェスター工科大学の所蔵品であった∥特徴:右端にある円輪直径訳300mmで拡大読取りができる∥参考:1850年に1/1,000,000インチ(0.025μm)測定器をWhitworthは作製している。同じ時期に測定範囲25mm、及び380mm測定器を作製している。∥製作時期:1853年
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測定範囲:0-1000mm∥目量:0.001mm∥最小読取値:0.1μm∥製造者:シップ社(スイス)∥参考:SIP社は1909年に標準尺をはじめて用いた1m測長機を開発した。∥製作時期:昭和5年頃
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測定範囲:0-150mm∥目盛範囲:±83μm∥目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥製造者:カール・ツアイス社(独)/参考:Zeissは1922年に開発、横型の光てこ式比較測長器をUKのNPL(物理学研究所)が開発している。∥製造時期:昭和2年頃
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測定範囲:0-100mm∥適用範囲:200mm∥目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥測定精度:±(0.5+L/400)μm∥L=測定長mm∥製造者:カール・ツアイス社(独)∥参考:1890年Abbeはアライメントに関する原理(アッベの原理)を発見し、この測長器の元である標準尺が外から見える測長器を1890年に開発した。∥製造時期:昭和5年頃
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測定台の移動範囲:X200mm, Y50mm∥接眼目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥総合倍率:30倍∥角度接眼最小目量:1分∥製造者:カール・ツアイス社(独)∥備考:けがき針機構を備えている。∥製造時期:昭和5年頃
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