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型式：ＭＵＬ－１０００∥測定範囲：０－１０００ｍｍ∥目量：０．００５ｍｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥保証精度：±（０．６＋０．０００９・Ｌ）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥製造者：シップ社∥（スイス）∥備考：左側は測定対象に接触する測定、右側は光学像の測定、例えばねじれ角度等に用いたもので、第二次大戦後、わが国高度成長時代に製造業検査室にて活躍した。∥旧呉海軍工廠所有∥製作時期：昭和１３年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館 
測定範囲：０－２００ｍｍ∥目量（目盛範囲）∥１μｍ（±８３μｍ）∥０．２μｍ（±１０μｍ）∥最小読取値：０．０１μｍ∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：光てこを二重に用いた高感度比較測長器である。電気マイクロメータ活用以前ブロックゲージ標準器の校正に用いた。∥製造時期：昭和１５年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
型式：横型∥測定範囲：０－３０ｍｍ∥目量：０．００５ｍｍ∥最小読取値：０．５μｍ∥バーニヤ使用∥製造者：中村製作所（日本）∥特徴：ダイヤルゲージ目盛校正に用いた。∥参考：この後スタンド型の「ダイヤルゲージテスタ」などの校正器に代わった。∥製造時期：昭和１４年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲（Ｘ軸）∥外側：０－２５０ｍｍ（ｈｅｉｇｈｔ：０～５０）∥内側：１０－１９０ｍｍ（ｄｅｐｔｈ：１０～４０）∥標準尺目盛範囲：０－１００ｍｍ∥目量（顕微鏡）：１μｍ∥製造者：日本光学工業（現ニコン）（日本）∥備考：第二次大戦中欧州から輸入不可能時代にＺｅｉｓｓ、ＳＩＰの測長器に代わり開発され使用された。製造時期：昭和１５年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
目盛範囲：０－１００μｍ∥測定範囲：０－３５０ｍｍ∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度：±（０．５＋Ｌ／１００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥繰返し精度：±０．２５μｍ∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中、Ｚｅｉｓｓ横型オプチメータに代り製作された。∥製造時期：昭和１５年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：０－１００ｍｍ∥目量：０．００１ｍｍ∥∥最小読取値：０．１μｍ∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中ＳＩＰ万能測長器に代り製作された。∥製造時期：昭和１５年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
測定範囲：０－１５０ｍｍ∥指示範囲：±５μｍ∥目量：０．１μｍ（可変）∥最小読取値：０．０１μｍ∥製造者：オリンパス光学∥黒田挾範製作所（日本）∥備考：昭和２７年工業技術院機械試験所、朝永良夫部長により考案された。測定子の微小変位をオプチカルフラットの傾きに変え、光波干渉縞（白色干渉）、黒線縞を指標とし、その移動から値を求めた。接眼鏡中の目盛をその干渉縞で校正して用いた。第１号機はオリンパス、第２号機はオリンパスと黒田精工によって製作された。∥製造時期：昭和３７年頃
情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館
