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縦型オプチメータ

測定範囲:0-150mm∥目盛範囲:±83μm∥目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥製造者:カール・ツアイス社(独)/参考:Zeissは1922年に開発、横型の光てこ式比較測長器をUKのNPL(物理学研究所)が開発している。∥製造時期:昭和2年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


顕微鏡付スケール

測定範囲:0-200mm∥最小読取値:0.02mm∥製造者:島津製作所(日本)製造時期:昭和2年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


ねじコンパレータ

測定対象:ねじ有効径∥測定範囲:0-1in∥目量:0.0005in∥製造者:フェデラル社(米)∥製造時期:大正14年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


アッベ式縦型測長器

測定範囲:0-100mm∥適用範囲:200mm∥目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥測定精度:±(0.5+L/400)μm∥L=測定長mm∥製造者:カール・ツアイス社(独)∥参考:1890年Abbeはアライメントに関する原理(アッベの原理)を発見し、この測長器の元である標準尺が外から見える測長器を1890年に開発した。∥製造時期:昭和5年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


万能測定顕微鏡

測定台の移動範囲:X200mmY50mm∥接眼目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥総合倍率:30倍∥角度接眼最小目量:1分∥製造者:カール・ツアイス社(独)∥備考:けがき針機構を備えている。∥製造時期:昭和5年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


膜厚計(レプトスコープ1)

測定範囲:0-220μm∥最小目量:2μm∥製造者:カール・ドイツK.G.(独)∥製造時期:昭和5年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


横型オプチメータ

測定範囲:0-250mm∥目盛範囲:0-100μm∥目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥測定精度:±(0.5+L/100)μm∥L=測定長mm∥繰返し精度:±0.25μm∥製造者:カール・ツアイス社(独)∥備考:第二次大戦後、わが国高度経済成長時代に生産企業の検査室で活躍した。∥製造時期:昭和5年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


万能横型測長器

測定範囲(X軸):∥外側(高さ50迄):0-250mm∥内側(深さ40迄):10-190∥接眼目量 :1μm∥標準尺目盛範囲:0-100mm∥移動量:Z(上下)∥0-75mm∥製造者:カール・ツアイス(独)∥備考:横型オプチメータとベッドが共用できる。∥第二次大戦後、上記横型オプチメータと同様に高度成長時代を支えた。∥製造時期:昭和15年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


投影検査機

型式:AM20∥スクリーンサイズ:16×10in∥倍率:50倍∥製造者:RSウイルダ社(米)∥製造時期:昭和5年頃

情報所有館 : ミツトヨ測定博物館 


テーパねじゲージ測定器

測定範囲∥横方向:0-700mm∥垂直方向:0-100mm∥測定対象:全APIテーパねじゲージ他∥目量:1μm∥最小読取値:0.1μm∥角度接眼目量:1分∥製造者:SIP社(スイス)∥参考:アメリカ石油協会(API)の規格にのっとったテーパねじケージの測定に用いた。API規格は世界中にて用いられている。このための自動三次元測定機が1979年に計量研究所とミツトヨで開発された(ミツトヨ宇都宮歴史館に展示)。∥製造時期:昭和11年

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