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海外のライセンス供与触媒の製造とその品質管理のために昭和４８年に導入された、当時の日本でも数少ない窒素吸着法による触媒製品の細孔分布測定装置である。これらの装置から相対圧と吸着量のデータが得られたが、解析装置を伴わないため、触媒の細孔分布の解析は別に行う必要があった。
写真は、測定装置及び触媒の細孔分布測定値の再現性調査に関わる報告書（昭和５１年）。
情報所有館 ： 国立科学博物館 
本装置は、留出油（灯油、軽油、減圧軽油等）を処理する水素化処理触媒（主としてライセンス供与の触媒）の性能評価に際して重要な役割を果たした。本装置は親会社の評価装置を参考に製作されたもので、温度管理を除いて圧力調整や原料油の流量管理は手動で行われていた。
写真は左上から時計回りに、高圧水素ガス導入用のコンプレッサー、試験装置全体、試験装置の模式図、当該装置を用いた灯油の水素化処理試験に関する報告書（昭和５６年）。
情報所有館 ： 国立科学博物館
昭和３６年頃の旭化成の川崎製造所における工事中のスナップ写真とそれらを収納したアルバム。川崎製造所では３２年よりポリスチレン樹脂の生産がスタート。
情報所有館 ： 国立科学博物館
精米や精麦などの粒状のものの白度測定を目的として開発されたものであり、主として精米の白度測定に使用された。精米専用の白度測定器としては本邦初と思われる。米の白度は米品質の重要な要素となっており、現在はデジタル表示型の測定器が広く使用されている。Ｃ−３型の測定原理は積分球による反射光測定である。
情報所有館 ： 国立科学博物館
横型研削式精米機（ＲＭ）と横型摩擦式精米機（ＢＳ）を複数台連座したコンパス精米機（ＣＰ）は、昭和３６年（１９６１年）当時としては全く新しい構想の精米装置であった。
情報所有館 ： 国立科学博物館
昭和５４年（１９７９年）に、過乾燥白米の浸漬時の水中亀裂を減少させて食味を改善し、さらに精白米の水分上昇による歩留向上を目的に開発された（写真は後継機のＬＭ９０００）。この白米調質装置（ＬＭ）が開発されたことで、精米の前処理にはプレコンディショナー（ＢＣＳ）、精米装置にはニューコンパス精米装置（ＮＣＰ）、後処理には白米調質装置で構成される理想的な精米システムが完成した。
情報所有館 ： 国立科学博物館
光沢米の研米加工が可能で商品価値が上がるため、米の消費拡大を目的に昭和５０年（１９７５年）に開発された加湿精米機の後継機。その後も加湿精米機は開発が展開され、日本の短粒種のみならず世界の長粒種を精米する業界に普及し現在も続いている。
情報所有館 ： 国立科学博物館
