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情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館（沼田記念館・測定機器館） 
型式：８１８Ｋ∥使用法：サインテーブルを用い傾け、正しいテーパ角度からの偏差を求める∥測定範囲：外側テーパ（内側テーパ）∥最大径：１２０ｍｍ（１００ｍｍ）∥最大長さ：２５０ｍｍ（２００ｍｍ）∥最大角度：３０°（２０°）∥測微器目量：０．５，１μｍ∥製造者：カール・マール社（独）∥製造時期：昭和３５年頃
形式：タリサーフ４型∥パラメータ：Ｒａ，Ｒｙ，Ｒｑ，Ｒｚ等∥測定範囲∥Ｒｙ：０．０１～１００μｍ∥Ｒａ：０．００５～１０μｍ∥評価長さ：０．２５，０．８，２．５ｍｍ∥記録縦倍率：５００～１００，０００倍∥８段階∥記録横倍率：１０～１００倍∥製造者：テーラー・ホブソン（英）∥製造時期：昭和３８年
型式：ホンメルテスタＴ∥パラメータ：Ｒａ，Ｒｐ，Ｒｔ等∥測定範囲∥Ｒａ，Ｒｐ：０．１～３０μｍ∥Ｒｔ：０．３～１００μｍ∥評価長さ：０．６３，２，６．３，２０ｍｍ∥記録縦倍率∥断面曲線：１００～３０，０００倍∥粗さ曲線：３００～１００，０００倍∥記録横倍率：１０～１０００倍∥製造者：ホンメルベルケ社（西独）∥製造時期：昭和４０年
型式：タリリン∥測定長さ：１００ｍｍ∥タテ倍率：２００，４００，１０００，２０００，４０００，１００００倍∥ヨコ倍率：２，５，１０倍∥製造者：ランク・テーラー・ホブソン社（英）∥製造時期：昭和４０年
型式：タリロンド５１∥測定容量∥測定物の内外径：３５０ｍｍ∥測定物の高さ：４０６ｍｍ∥耐荷量：６３ｋｇ∥回転スピンドルの回転精度：０．０２５μｍ∥最小目量：０．１μｍ∥製造者：ランク・テーラー・ホブソン社（英）∥製造時期：昭和４０年頃
測定対象：機械部品の表面粗さ∥測定範囲：０．０３～１μｍＲｍａｘ∥顕微鏡倍率：６０，１２０倍∥製造者：オリンパス光学工業（株）（日本）∥参考：工業技術院機械試験所朝永良夫部長考案の光学系を用い、朝永・オリンパスの頭文字からＴＯ式と名付けた。∥製造時期：昭和２６年
パラメータ：Ｒｚ（最大高さ粗さ）∥対物レンズ：４，１０，２０倍∥測定範囲：１～５００μｍＲｚ∥製造者：中央電子計算機（株）（日本）∥備考：この後の電気的測定機の発展により、光切断法は鋼版切口状態の判定に用いている。∥製造時期：昭和３２年頃
形式：ペルトメータ、万能型Ｓ４ＢＤ／４∥パラメータ：Ｒａ，Ｒｐ，Ｒｔ，Ｗ，ｔｐ等∥測定範囲：表面粗さ０．０１～２５μｍ∥ウェービネス∥０．３～１００μｍ∥評価長さ：０．０２５～８ｍｍ∥記録縦倍率：断面曲線４００～１，０００，０００倍∥記録横倍率：１０～１，０００倍∥製造者：ペルテン社（西独）∥製造時期：昭和４５年頃
型式：フジノンＦＭ４０∥測定方式：投影格子型モアレ縞∥画像カメラ撮影観測方式∥測定対象：生体形状、工学的プレス加工部品の形状等∥測定方法：測定物体に格子像を投影し、物体形状によって生じるモアレ縞画像を撮影し、その画像から立体形状を求める。∥製造者：富士写真光機（株）（日本）∥製造時期：昭和５４年
形式：タリサーフ６型∥パラメータ：Ｒａ，Ｒｙ，Ｒｑ，Ｓｍ，Ｓ，Ｗａ等（４１パラメータ）∥測定範囲：０．０１～１００μｍ∥駆動距離：１２０ｍｍ伸展により２６５ｍｍ∥縦倍率：１００～２００，０００倍∥１１段階∥横倍率：２～１，０００倍∥製造者：ランク・テーラー・ホブソン（英）∥製造時期：昭和６０年
