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情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館（沼田記念館・測定機器館） 
測定範囲：０－４ｉｎ∥マイクロメータヘッド∥差動範囲：０－１ｉｎ∥目量：０．０００１ｉｎ∥ダイヤルゲージ∥指示範囲：±０．００１ｉｎ∥目量：０．００００５ｉｎ∥製造者：ブラウン・シャープ社（米）∥製造時期：昭和３５年頃
被検レンズ直径：２４～９０ｍｍ∥頂点屈折力：０～±２５Ｄ∥最小目盛：０．１２５Ｄ，０．２５Ｄ∥ターゲット：コロナのターゲット∥視度調整：＋３Ｄ～－５Ｄ∥府仰角度：２５～９０度∥製造者：（株）トプコン（日本）∥製造時期：昭和３５年頃
測定範囲：０～２５ｍｍ∥目量：１μｍ∥製造者：（株）東京計測機製作所∥製造時期：昭和３９年
ステイ径：２８ｍｍ∥測定範囲：±１８μｍ∥目量：０．５μｍ∥製造者：ＶＥＢ精密測定器製作所（東独）∥製造時期：昭和４０年頃
測定対象：マイクロメータ測定面の平行度検査∥適用範囲：測定範囲６００ｍｍまでの外側マイクロメータ∥オートコリメータ∥測定範囲：３０分∥目量：１０秒∥精度：６秒∥製造者：ヒルガー・ワッツ社（英）∥製造時期：昭和３５年頃
目盛範囲：０－１００ｍｍ∥測長範囲：０－２００ｍｍ∥接眼目盛：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度（０～１００ｍｍ）：±（１．５＋Ｌ／４００）μｍ∥測定精度（１００～２００ｍｍ）：±（１．２＋１５０）μｍ∥製造者：カールツァイス・イエナ社（東独）∥製造時期：昭和３６年
測定範囲∥外側：０～２５５ｍｍ∥内側（リングゲージ）：２０～２５３ｍｍ∥目量：１μｍ∥測定力：２、５、１０Ｎ（２００、５００、１０００ｇｆ）∥マジックアイＯＮ∥精度：±（０．５＋０．０２Ｌ）μｍ∥ここでＬは測定長ｍｍ∥製造者：三井精機工業（株）（日本）∥備考：高度成長時代に三井精機、津上が測長器を作り、ＳＩＰ及びＺｅｉｓｓに対抗して多量に生産され輸出もされた。∥製造時期：昭和４１年
測定範囲∥径：φ０．０５－２ｍｍ∥測定深さ：４ｍｍ∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度∥φ０．５－２ｍｍ：±（０．８＋１．３／ｎ）μｍ∥φ０．５ｍｍ以下：±（０．５＋１．６／ｎ）μｍ∥ｎ＝測定回数∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥特徴：直径３０μｍ、１００μｍのガラス測定子の測定物への接触状況を顕微鏡でとらえ座標値を求めて座標値より寸法を決めた。∥製造時期：昭和４３年
測定範囲：Ｘ：２５０ｍｍ∥Ｙ：１２５ｍｍ∥Ｚ：７５ｍｍ∥最小表示量：０．１μｍ（１０μｉｎ）∥照明法：落射及び透過照明∥明視野及び暗視野切換∥統合倍率：１０～５００倍∥製造者：（株）オリンパス（日本）∥備考：このオリンパス製のほか、トプコン他光学メーカーがこの種の測定顕微鏡を多く作製し、輸出も行った。∥製造時期：昭和５５年
目盛範囲：０－１００ｍｍ∥測定範囲：２００ｍｍ∥目量：１μｍ∥指示測微器読目量：０．１μｍ∥測定精度：±（０．６＋Ｌ／１０００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥製造者：カール・ツアイス・イエナ社（東独）∥製造時期：昭和５０年頃
