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情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館（沼田記念館・測定機器館） 
測定範囲（Ｘ軸）∥外側：０－２５０ｍｍ（ｈｅｉｇｈｔ：０～５０）∥内側：１０－１９０ｍｍ（ｄｅｐｔｈ：１０～４０）∥標準尺目盛範囲：０－１００ｍｍ∥目量（顕微鏡）：１μｍ∥製造者：日本光学工業（現ニコン）（日本）∥備考：第二次大戦中欧州から輸入不可能時代にＺｅｉｓｓ、ＳＩＰの測長器に代わり開発され使用された。製造時期：昭和１５年頃
スクリーン径：φ３６０ｍｍ∥倍率：２０倍∥製造者：アビヨン・マルセルダッソー社（仏）∥特徴：水平光路中に測定物をセットした。∥製造時期：昭和５年頃
製造者：（株）島津製作所（日本）∥備考：第二次大戦中に開発され用いられた。∥製造時期：昭和１５年頃
目盛範囲：±０．０２ｍｍ∥目量：１μｍ∥製造者：島津製作所（日本）∥備考：第二次大戦中に欧州の測微鏡に代わり開発された。∥製造時期：昭和２０年
目盛範囲：０－１００μｍ∥測定範囲：０－３５０ｍｍ∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度：±（０．５＋Ｌ／１００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥繰返し精度：±０．２５μｍ∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中、Ｚｅｉｓｓ横型オプチメータに代り製作された。∥製造時期：昭和１５年頃
測定範囲：０－１００ｍｍ∥目量：０．００１ｍｍ∥∥最小読取値：０．１μｍ∥製造者：理科学研究所（日本）∥備考：第二次大戦中ＳＩＰ万能測長器に代り製作された。∥製造時期：昭和１５年頃
測定範囲：０－１５０ｍｍ∥指示範囲：±５μｍ∥目量：０．１μｍ（可変）∥最小読取値：０．０１μｍ∥製造者：オリンパス光学∥黒田挾範製作所（日本）∥備考：昭和２７年工業技術院機械試験所、朝永良夫部長により考案された。測定子の微小変位をオプチカルフラットの傾きに変え、光波干渉縞（白色干渉）、黒線縞を指標とし、その移動から値を求めた。接眼鏡中の目盛をその干渉縞で校正して用いた。第１号機はオリンパス、第２号機はオリンパスと黒田精工によって製作された。∥製造時期：昭和３７年頃
ステム径：φ８ｍｍ∥目盛範囲：±２５μｍ∥目量：０．５μｍ∥製造者：ヨハンソン社（スウェーデン）∥製造時期：昭和２５年頃
測定台移動距離：Ｘ２００ｍｍ∥Ｙ１００ｍｍ∥接眼目量：１μｍ∥角度接眼目量：１分∥センター間距離：７００ｍｍ∥測定精度：±（１＋Ｌ／１００）μｍ∥スパイラルマイクロスコープ：０．５μｍ∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：この測定器は第二次大戦直前ドイツからＵボートにて運び東京工大に設置された。∥製造時期：昭和１５年
型式：Ｎｉｋｏｎ１∥スクリーン径：φ３００ｍｍ∥倍率：２０倍，５０倍∥製造者：現ニコン（日本）製造時期：昭和２３年頃
