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情報所有館 ： ミツトヨ測定博物館（沼田記念館・測定機器館） 
測定範囲：０－１００ｍｍ∥適用範囲：２００ｍｍ∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度：±（０．５＋Ｌ／４００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥参考：１８９０年Ａｂｂｅはアライメントに関する原理（アッベの原理）を発見し、この測長器の元である標準尺が外から見える測長器を１８９０年に開発した。∥製造時期：昭和５年頃
測定台の移動範囲：Ｘ２００ｍｍＹ５０ｍｍ∥接眼目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥総合倍率：３０倍∥角度接眼最小目量：１分∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：けがき針機構を備えている。∥製造時期：昭和５年頃
測定範囲：０－２２０μｍ∥最小目量：２μｍ∥製造者：カール・ドイツＫ．Ｇ．（独）∥製造時期：昭和５年頃
測定範囲：０－２５０ｍｍ∥目盛範囲：０－１００μｍ∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥測定精度：±（０．５＋Ｌ／１００）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥繰返し精度：±０．２５μｍ∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：第二次大戦後、わが国高度経済成長時代に生産企業の検査室で活躍した。∥製造時期：昭和５年頃
測定範囲（Ｘ軸）：∥外側（高さ５０迄）：０－２５０ｍｍ∥内側（深さ４０迄）：１０－１９０∥接眼目量 ：１μｍ∥標準尺目盛範囲：０－１００ｍｍ∥移動量：Ｚ（上下）∥０－７５ｍｍ∥製造者：カール・ツアイス（独）∥備考：横型オプチメータとベッドが共用できる。∥第二次大戦後、上記横型オプチメータと同様に高度成長時代を支えた。∥製造時期：昭和１５年頃
型式：ＡＭ２０∥スクリーンサイズ：１６×１０ｉｎ∥倍率：５０倍∥製造者：ＲＳウイルダ社（米）∥製造時期：昭和５年頃
測定範囲∥横方向：０－７００ｍｍ∥垂直方向：０－１００ｍｍ∥測定対象：全ＡＰＩテーパねじゲージ他∥目量：１μｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥角度接眼目量：１分∥製造者：ＳＩＰ社（スイス）∥参考：アメリカ石油協会（ＡＰＩ）の規格にのっとったテーパねじケージの測定に用いた。ＡＰＩ規格は世界中にて用いられている。このための自動三次元測定機が１９７９年に計量研究所とミツトヨで開発された（ミツトヨ宇都宮歴史館に展示）。∥製造時期：昭和１１年
型式：ＭＵＬ－１０００∥測定範囲：０－１０００ｍｍ∥目量：０．００５ｍｍ∥最小読取値：０．１μｍ∥保証精度：±（０．６＋０．０００９・Ｌ）μｍ∥Ｌ＝測定長ｍｍ∥製造者：シップ社∥（スイス）∥備考：左側は測定対象に接触する測定、右側は光学像の測定、例えばねじれ角度等に用いたもので、第二次大戦後、わが国高度成長時代に製造業検査室にて活躍した。∥旧呉海軍工廠所有∥製作時期：昭和１３年頃
測定範囲：０－２００ｍｍ∥目量（目盛範囲）∥１μｍ（±８３μｍ）∥０．２μｍ（±１０μｍ）∥最小読取値：０．０１μｍ∥製造者：カール・ツアイス社（独）∥備考：光てこを二重に用いた高感度比較測長器である。電気マイクロメータ活用以前ブロックゲージ標準器の校正に用いた。∥製造時期：昭和１５年頃
型式：横型∥測定範囲：０－３０ｍｍ∥目量：０．００５ｍｍ∥最小読取値：０．５μｍ∥バーニヤ使用∥製造者：中村製作所（日本）∥特徴：ダイヤルゲージ目盛校正に用いた。∥参考：この後スタンド型の「ダイヤルゲージテスタ」などの校正器に代わった。∥製造時期：昭和１４年頃
