メモリテストシステム T310/31X

資料番号 : 113611610002
所在等 株式会社アドバンテスト 群馬R&Dセンタ
所在地 群馬県邑楽郡明和町
製作(製造)年 1983
種類 量産品
製作者(社)等 タケダ理研工業株式会社 (現 株式会社アドバンテスト)
調査機関団体 日本半導体製造装置協会
特徴 メモリテストシステム T310/31Xは当時最先端の大型コンピューター用に使われた64kbit DRAM等のメモリデバイスを8個同時に試験する試験装置です。日本の半導体産業の勃興期に試作評価から量産まで一貫して試験できる装置として大手半導体メーカ各社に導入され、そのビジネス拡大に大きく貢献しました。
資料公開状況 非公開
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