(データは調査時のものです。最新の状況とは一致しない場合があります。)
干渉位相差顕微鏡 |
資料番号 : 113111560032 |
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所在等 | 株式会社 ニコン 100周年プロジェクト室 |
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所在地 | 東京都品川区 |
製作(製造)年 | 1963 |
種類 | 写真 |
製作者(社)等 | 日本光学工業株式会社(現 株式会社ニコン) |
調査機関団体 | 日本顕微鏡工業会 |
特徴 | 万能型可変位相差顕微鏡を改良研究する過程で日本光学の上野正によって発明した。透明な標本の光路差(屈折率)を明暗のコントラスト(モノクローム)に変える位相差顕微鏡の特長に加えて、カラーのコントラストが自由に選べること、コントラストの強さを調整できること(位相差顕微鏡はコントラスト一定)が特長としてあげられる。 |
資料公開状況 | 非公開 |
調査票記入日 | 2014/07/18 |